[发明专利]光谱CT的检测器阵列有效
申请号: | 201410038990.8 | 申请日: | 2006-04-06 |
公开(公告)号: | CN103760588B | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
发明(设计)人: | S.莱文;O.沙皮罗;A.阿尔特曼;N.韦纳 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20;G01T1/202;G01T1/29 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李静岚;汪扬 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 ct 检测器 阵列 | ||
1.一种辐射检测器(24),包括:
上部闪烁体(30
第一光电检测器(38
光学元件(100),其与上部闪烁体的面对x射线源的上表面或者远离x射线源的下表面相邻设置并且光耦合来收集从上部闪烁体(30
下部闪烁体(30
第二光电检测器(38
2.如权利要求1所述的辐射检测器,其中第一和第二光电检测器(38
3.如权利要求1所述的辐射检测器,其中上部和下部闪烁体(30
4.如权利要求3所述的辐射检测器,其中上部闪烁体厚度(h2)等于0.1mm,第一光电检测器活性区域(94)的高度(h1 )至少是0.65mm。
5.如权利要求1所述的辐射检测器,其中光学元件(100)包括下列至少之一:
PMMA、
环氧树脂铸型、
PET聚乙烯对苯二酸盐、
聚碳酸酯、
聚苯乙烯、
YAG和
ZnSe。
6.如权利要求1所述的辐射检测器,还包括:
反射涂层(80),设置在光学元件(100)的表面上不接触上部闪烁体和第一光电检测器的地方以及设置在上部和下部闪烁体(30
7.如权利要求1所述的辐射检测器,其中上部闪烁体(30
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