[发明专利]声表面波器件谐振频率测量装置及方法

权利要求书

1.一种声表面波器件谐振频率的测量装置，其特征在于：包括信号处理单元（1）、信号发射单元（2）、天线开关（3）及信号接收单元（4），所述信号处理单元（1）的内部设定一个信号强度指定值，信号处理单元（1）包括控制单元（11）和A/D处理器（12），信号发射单元（2）、天线开关（3）及信号接收单元（4）分别受控制单元（11）的控制，信号发射单元（2）包括发射机（21）、混频器（22）及功率放大器（23），信号接收单元（4）包括接收机（41），混频器（22）的输入端连接于发射机（21）的输出端，混频器（22）的输出端连接于功率放大器（23）的输入端，功率放大器（23）的输出端连接于天线开关（3）的发射端，天线开关（3）的接收端连接于信号接收单元（4）的输入端，信号接收单元（4）中接收机（41）的中频信号输出端和RSSI信号输出端分别连接于A/D处理器（12）的输入端，天线开关（3）的公共端连接于具有可逆性的天线（5）。

2.如权利要求1所述的声表面波器件的谐振频率的测量装置，其特征在于：所述信号发射单元（2）为超外差结构，发射机（21）具有内置调制器，发射机（21）、混频器（22）及功率放大器（23）分别连接于控制单元（11）。

3.如权利要求1所述的声表面波器件的谐振频率的测量装置，其特征在于：所述接收机（41）具有内置低噪声放大器、内置混频器及射频信号幅度检测电路。

4.如权利要求1所述的声表面波器件的谐振频率的测量装置，其特征在于：所述信号接收单元（4）还包括低噪声放大器（42），天线开关（3）的接收端连接于低噪声放大器（42）的输入端，低噪声放大器（42）的输出端连接于接收机（41）的输入端，接收机（41）和低噪声放大器（42）分别连接于控制单元（11）。

5.一种利用权利要求1所述的声表面波器件谐振频率的测量装置的测量方法，其特征在于：所述测量方法包括以下步骤：

步骤一，控制单元（11）控制打开信号发射单元（2）和天线开关（3）之间的发射通道，控制发射机（21）产生某个频点的载波调制信号，该载波调制信号由混频器（22）进行混频处理后产生射频信号，射频信号由功率放大器（23）放大后经过天线开关（3）由天线（5）发射出，此时，天线开关（3）和信号接收单元（4）之间的接收通道为关闭的；

步骤二，控制单元（11）控制关闭发射通道，打开天线开关（3）和信号接收单元（4）之间的接收通道，声表面波器件吸收天线（5）发出的与声表面波器件本身的谐振频率相同的信号，并将该信号反射给天线，反射回的信号经天线开关（3）向信号接收单元（4）输送，信号接收单元（4）将天线（5）中反射回的信号进行处理由接收机（41）输出中频信号和RSSI信号；

步骤三，A/D处理器（12）对步骤二中输出的中频信号和RSSI信号分别进行采样，信号处理单元（1）将信号强度指定值与RSSI信号进行比较，如果RSSI信号大于信号强度指定值，则进行步骤四的处理；如果RSSI信号小于信号强度指定值，则发射其它频点的信号，重复上述步骤一至步骤三的处理；

步骤四，信号处理单元（1）对中频信号进行FFT变换处理得到对应的频谱能量数值，频谱能量最大值对应的频率加上接收机（41）的本振频率即为声表面波器件的谐振频率；

最后，关闭接收通道。