[发明专利]具备ESD保护电路的半导体装置有效
申请号: | 201410043051.2 | 申请日: | 2014-01-29 |
公开(公告)号: | CN103972230B | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
发明(设计)人: | 片仓贵司;原田博文;广瀬嘉胤 | 申请(专利权)人: | 艾普凌科有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 何欣亭;王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具备 esd 保护 电路 半导体 装置 | ||
1.一种具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,具有:
P型半导体衬底;
设于所述P型半导体衬底的N型阱;
设于所述N型阱内的P型扩散电阻;
在所述N型阱与所述P型扩散电阻之间形成的二极管;
设于所述P型半导体衬底的第1 NMOS晶体管及第2 NMOS晶体管;
设于所述P型半导体衬底的接地端子;以及
设于所述N型阱的电源端子,
所述P型扩散电阻的一端与输入端子连接,另一端与所述第1 NMOS晶体管的漏极连接,进而与内部电路连接,
所述第1 NMOS晶体管的栅极及源极与所述接地端子连接,
所述第2 NMOS晶体管的漏极与所述电源端子连接,所述第2 NMOS晶体管的栅极及源极与所述接地端子连接。
2.如权利要求1所述的具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,在所述第1 NMOS晶体管的栅极带电的电子经由所述第2 NMOS晶体管及所述二极管,从所述输入端子引出。
3.如权利要求1或2所述的具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,在所述扩散电阻的另一端与所述内部电路之间,还具备一端与所述扩散电阻的另一端连接、另一端与所述内部电路连接的电阻。
4.如权利要求1或2所述的具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,用于所述电源端子的N型扩散区域仅设于所述扩散电阻的另一端附近。
5.如权利要求1或2所述的具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,用于所述电源端子的N型扩散区域以包围所述扩散电阻的方式设置。
6.如权利要求1或2所述的具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,所述内部电路具有第2输入端子,所述第2输入端子是逆变器电路的共同栅极端子。
7.一种具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,具有:
P型半导体衬底;
设于所述P型半导体衬底的N型阱;
设于所述N型阱内的P型扩散电阻;
在所述N型阱与所述P型扩散电阻之间形成的第1二极管;
设于所述P型半导体衬底的NMOS晶体管及第2二极管;
设于所述P型半导体衬底的接地端子;以及
设于所述N型阱的电源端子,
所述P型扩散电阻的一端与输入端子连接,另一端与所述NMOS晶体管的漏极连接,进而与内部电路连接,
所述NMOS晶体管的栅极及源极与所述接地端子连接,
所述第2二极管的阴极与所述电源端子连接,阳极与所述接地端子连接。
8.如权利要求7所述的具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,在所述NMOS晶体管的栅极带电的电子经由所述第1二极管和所述第2二极管,从所述输入端子引出。
9.如权利要求7或8所述的具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,所述内部电路具有第2输入端子,所述第2输入端子是逆变器电路的共同栅极端子。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的