[发明专利]漏电侦测方法及存储器在审
申请号: | 201410044784.8 | 申请日: | 2014-02-07 |
公开(公告)号: | CN104835533A | 公开(公告)日: | 2015-08-12 |
发明(设计)人: | 陈科仲;陈映仁;沈欣彰 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/04 | 分类号: | G11C29/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 漏电 侦测 方法 存储器 | ||
1.一种漏电侦测方法,包括:
施加一测试电压至一字线,该测试电压介于1伏特至5伏特之间;以及
将该测试电压自该字线移除后,根据该字线的一电压变化,鉴别该字线的漏电状态。
2.根据权利要求1所述的漏电侦测方法,其中该鉴别步骤,包括:
当该字线的一字线电压到达一默认电平,将该测试电压自该字线移除,并维持一预设时间;
于该默认时间过后,读取该字线电压;
比较该字线电压与该参考电压;以及
当该字线的电压小于该参考电压,将该存储区块标示为一故障区。
3.根据权利要求2所述的漏电侦测方法,其中该参考电压介于0.9伏特至4.9伏特之间。
4.根据权利要求2所述的漏电侦测方法,其中该预设时间介于10微秒至2毫秒之间。
5.一种漏电侦测方法,包括:
对一存储区块执行擦除操作后,施加一测试电压至一字线,该字线耦接至该存储区块;
当该字线的一字线电压到达一默认电平,将该测试电压自该字线移除,并维持一预设时间;
于该默认时间过后,读取该字线电压;
根据该字线电压及一参考电压,鉴别该字线的一漏电状态;以及
当该漏电状态异常,则不对该存储区块执行一编程操作。
6.根据权利要求5所述的漏电侦测方法,其中该测试电压介于1伏特至5伏特之间。
7.根据权利要求5所述的漏电侦测方法,其中该参考电压介于0.9伏特至4.9伏特之间。
8.根据权利要求5所述的漏电侦测方法,其中该预设时间介于10微秒至2毫秒之间。
9.一种存储器,包括:
一存储区块;
一字线,耦接于该存储区块;
一电压产生器,用以提供一测试电压;
一开关电路;
一比较器;以及
一控制逻辑,用以控制该开关电路电性连接该字线与该电压产生器,使得该测试电压施加至该字线,当该字线电压到达一默认电平,该控制逻辑控制该开关电路将该字线与该电压产生器分离,并维持一预设时间,于该预设时间过后,该控制逻辑控制该开关电路电性连接该字线与该比较器,使得该比较器读取该字线电压,该比较器根据该字线电压及一参考电压,鉴别该字线的漏电状态。
10.根据权利要求9所述的存储器,其中该比较器比较该字线电压与该参考电压,当该字线的电压小于该参考电压,该比较器鉴别该漏电状态异常。
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