[发明专利]一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法

权利要求书

1.一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述方法通过分析瓷质悬式绝缘子串的温度特征信息，引入数值分析理论对基于红外热像图谱的绝缘子缺陷进行诊断；所述方法的步骤为：

（1）在待检测现场采集n串无明显异常绝缘子串的红外热像图谱，若待检测现场共有m串同类型瓷质悬式绝缘子串，则n满足以下条件：

0.1×m<n<0.5×m，且n>2；

（2）提取步骤（1）所述绝缘子串红外热像图谱中每片绝缘子钢帽处温度，按绝缘子位置保存；

（3）将步骤（2）所述n串绝缘子相同位置绝缘子钢帽的温度求算术平均后得到基准温度，为该检测现场该类型绝缘子串的基准温度特征信息；

（4）采集待诊断绝缘子串的红外热像图谱，然后按步骤（2）所述方法获取待诊断绝缘子串的温度，为待诊断绝缘子串特征信息；

（5）将步骤（4）所述待检测绝缘子串的温度特征信息减步骤（3）所述基准温度特征信息，得到待检测绝缘子的缺陷诊断信息；所述缺陷诊断信息去除最大值和最小值后求均值乘1.2得到上阈值；所述缺陷诊断信息去除最大值和最小值后求均值乘0.8得到下阈值；

（6）将步骤（5）所述待检测绝缘子的缺陷诊断信息与上下阀值比较大小；缺陷诊断信息大于上阀值信息所对应位置的绝缘子可判断为低值绝缘子；小于下阀值信息所对应位置的绝缘子可判断为零值绝缘子。

2.根据权利要求1所述瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述绝缘子串的温度特征信息是指绝缘子钢帽处的温度信息；所述绝缘子钢帽处的温度可以是钢帽处的平均温度或最高温度，也可以是运用图像处理技术实施降噪、去干扰信息后钢帽处的平均温度或最高温度。

3.根据权利要求1所述瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述步骤（2）绝缘子位置是指每片绝缘子在绝缘子串中所处的位置，在指定方向后，每片绝缘子的位置编号是唯一的；所述方向是指编号起始是导线侧还是构架侧。

4.根据权利要求1所述瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述低值绝缘子的绝缘电阻在10兆欧与500兆欧之间；所述零值绝缘子的绝缘电阻小于10兆欧。