[发明专利]用于追踪死扇区以自动搜索和誊写的鲁棒扇区ID方案

说明书

本发明公开了一种用于追踪死扇区以自动搜索和誊写的鲁棒扇区ID方案。一种耐限电的EEPROM的仿真器（18）使用存储在每个扇区的扇区识别记录（45）中的多个扇区状态位（451）和前向/反向跳过标志（452、453）管理在易失性存储器（20）和非易失性存储器（24）处的存储器操作，以定义多个顺序地排列的多个状态指示器来指定用于每个存储器扇区的多个扇区配置状态，以及在前向誊写和反向搜索操作期间自动地绕过非易失性存储器阵列中的一个或多个死扇区。

技术领域

本发明通常涉及闪存存储器及其操作方法。一方面，本发明涉及使用闪存存储器来仿真电可擦可编程只读存储器(EEPROM)的系统及方法。

背景技术

电可擦可编程只读存储器（EEPROM）是与微控制器、微处理器、计算机和其它电子装置（例如，汽车嵌入式控制器）一起使用以存储数据的一种类型的非易失性存储器（NVM）。EEPROM的典型特征在于多次地擦除和写入存储器的单个字节的能力，同时当电源被断开的时候，被编程的位置在延长的时段保留其数据。然而，因为对EEPROM存储器的增加的成本和尺寸要求以及制作的困难，一些装置使用可擦除闪存存储器的扇区或块的一部分仿真EEPROM存储器来反映（mirror）存储在RAM中的信息，使得所存储的信息在装置未通电时被保持在闪存存储器中。然而，在克服闪存存储器周期以及会不利地影响存储在闪存阵列中的仿真的EEPROM数据完整性的可靠性方面还存在着挑战，例如在电源不稳定时（被称为“限电”）以及在装置处的异步复位会导致在闪存存储器处的镜像信息的损坏。此外，在大量编程和擦除周期防止解决编程或擦除错误之后，闪存存储器的潜在缺陷可能会导致用于扇区的闪存操作失败，在这种情况下，“死（DEAD）”扇区被宣告为无效并从操作流中被丢弃。虽然已提出EEPROM仿真的扇区识别方案以使用与扇区擦除操作交错的状态位使得能够确定开始、停止和系统内的扇区状态，但发现这些方案在更新步骤期间存在缺陷并且没有提供追踪闪存存储器中的死扇区的能力。

附图说明

在结合附图考虑下面详细的描述时，本发明及其获得的多个目的、特征、以及优点可以被理解，其中：

图1是使用用于追踪死扇区的扇区状态识别方案实现仿真EEPROM的微控制器架构的示意框图;

图2是根据本公开所选择的实施例示出了可用于提供扇区状态信息以及标记一个或多个即将到来的死扇区的扇区状态分类和相关联的扇区头码的表。

图3是根据本公开所选择的实施例示出了使用扇区识别头码以在自动的搜索和誊写序列中跳过死扇区的EEPROM仿真方案中的多个闪存阵列扇区的框图；

图4是根据本公开所选择的实施例示出了用于编程扇区识别头码以在自动的搜索和誊写序列中跳过死扇区的示例序列的EEPROM仿真方案中的多个闪存阵列扇区的框图；

图5是根据本公开所选择的实施例可用于生成用于EEPROM仿真单元中的闪存阵列的受控的地址序列的地址生成单元的示意框图；

图6是根据本发明所选择的实施例示出了用于使用闪存存储器来执行EEPROM仿真的各种方法的简化示意流程图。

具体实施方式