[发明专利]对于电路可靠性老化的方法和装置

权利要求书

1.一种用于针对预定的目标时间段的电路可靠性老化仿真的方法，所述方法包括：

将所述目标时间段划分成N个阶段，包括第一阶段和第二阶段，其中N是等于或大于2的自然数；

获取可靠性模型的用于所述第一阶段的第一参数值；

对于所述第一阶段，基于所述可靠性模型和所述第一参数值对所述电路进行第一仿真，以获取第一老化结果；

基于所述第一老化结果获取所述可靠性模型的用于所述第二阶段的第二参数值；以及

对于所述第二阶段，基于所述可靠性模型和所述第二参数值对所述电路进行第二仿真，以获取第二老化结果。

2.如权利要求1所述的方法，其中：

获取所述第一参数值包括获取用于所述可靠性老化仿真的初始参数值作为所述第一参数值；以及

获取所述第二参数值包括将所述第一老化结果和所述第一参数值组合以获取用于所述第二阶段的所述第二参数值。

3.如权利要求1所述的方法，其中所述第一老化结果是对于所述第一阶段计算的漂移参数值，或者随着所述可靠性老化仿真进行到所述第一阶段的结束计算的漂移的参数值，以及

所述第二老化结果是对于所述第二阶段计算的漂移参数值，或随着所述可靠性老化仿真进行到所述第二阶段的结束计算的相应参数的漂移的值。

4.如权利要求1所述的方法，还包括:

基于第i-1老化结果，获取所述可靠性模型的用于第i阶段的第i参数值，其中i表示从3到N的自然数；以及

对于所述目标时间段的所述第i阶段，基于所述可靠性模型和所述第i参数值对所述电路进行第i仿真，以获取第i老化结果。

5.如权利要求4所述的方法，其中获取所述第i参数值包括：将所述第(i-1)老化结果和第(i-1)参数值组合以获取所述可靠性模型的用于所述第i阶段的第i参数值。

6.如权利要求4所述的方法，其中所述第i老化结果是对于所述第i阶段计算的漂移参数值，或者，随着所述可靠性老化仿真进行直至所述第i阶段的结束计算的漂移的参数值。

7.如权利要求1所述的方法，还包括:

基于随着所述可靠性老化仿真进行直至第N阶段的结束计算的漂移的参数值，进行性能仿真。

8.如权利要求1所述的方法，其中所述可靠性老化仿真基于所述电路的网表进行，并且所述方法还包括:

基于所述电路的电路图或布局中的至少一个产生所述电路的网表。

9.一种针对目标时间段进行电路的可靠性老化仿真的装置，所述装置包括：

划分模块，用于将所述目标时间段划分成N个阶段，包括第一阶段和第二阶段，其中N是等于或大于2的自然数；以及

仿真模块，用于：

获取可靠性模型的用于所述第一阶段的第一参数值；

对于所述第一阶段，基于所述可靠性模型和所述第一参数值对所述电路进行第一仿真，以获取第一老化结果；

基于所述第一老化结果获取所述可靠性模型的用于所述第二阶段的第二参数值；以及

对于所述第二阶段，基于所述可靠性模型和所述第二参数值对所述电路进行第二仿真，以获取第二老化结果。

10.如权利要求9所述的装置，其中，

获取所述第一参数值包括：获取用于所述可靠性老化仿真的初始参数值作为所述第一参数值；并且

获取所述第二参数值包括：将所述第一老化结果和所述第一参数值组合以获取所述第二参数值。

11.如权利要求9所述的装置，其中：

所述第一老化结果是对于所述第一阶段计算的漂移参数值，或者，随着所述可靠性老化仿真进行到直至所述第一阶段的结束计算的漂移的参数值，以及

所述第二老化结果是对于所述第二阶段计算的漂移参数值，或者，随着所述可靠性老化仿真进行到直至所述第二阶段的结束计算的漂移的参数值。

12.如权利要求9所述的装置，其中所述仿真模块还被配置用于：

基于第i-1老化结果，获取所述可靠性模型的用于第i阶段的第i参数值，其中i表示从3到N的自然数；以及

对于所述目标时间段的所述第i阶段，基于所述可靠性模型和所述可靠性模型的所述第i参数值对所述电路进行第i仿真，以获取第i老化结果。