[发明专利]测试用托盘

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试用托盘，尤其涉及一种用于数码电子产品的测试用托盘。

背景技术

数码电子产品自动化生产过程中常需要测试托盘来对其进行测试。测试托盘通常包括用于容纳待测试电子元件的容置单元，及形成于容置单元一侧且用于电连接至待测试电子元件的电连接单元。容置单元上设有用于定位电子元件的定位机构，通常该定位机构包括拨动滑条及与该拨动滑条活动连接的夹持件。使用时，拨动拨动滑条使其滑动，以带动与之连接的夹持件沿相对电子元件运动以夹紧定位待测试的电子元件。该电连接单元通常包括导电接触组件及用于固定导电接触组件的固定部，该固定部通常一体成型于该容置单元一端并位于该定位结构的外侧；该导电接触组件上设有盖板，该盖板通过紧固件固定于该固定部上以将导电接触组件夹设于其间。此种定位机构因受电子装置结构限制，结构相对较小，使用利用人工拨动拨动滑条时不容易找准位置，导致使用不便。此外，由于电连接单元的固定部与该容置单元一体成型无法拆卸，当对不同尺寸的电子装置进行测试时，必须换掉整个测试托盘，且更换导电接触组件必须拆除盖板，使用不方便。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种使用方便的测试用托盘。

一种测试用托盘，用于收容待测试电子装置并将其电连接至检测机构，该测试用托盘包括容置单元及设置于该容置单元一侧的电连接单元，该容置单元包括盘体，该盘体包括底壁及环绕该底壁周缘形成的侧壁，该底壁与该侧壁共同围成收容腔以收容该待测试电子装置，该侧壁上间隔形成定位条及引导口，该定位条包括按压部及设置于该按压部两端并与该侧壁连接的弹性部；该引导口外侧形成卡接部；该容置单元还包括锁紧件，该锁紧件包括滑动部及弹性件，该滑动部包括本体及垂直凸设于该本体一侧的弯折部，该滑动部可滑动地装设于该盘体一端的外侧时，该本体位于该盘体的底壁的下方，该弯折部封闭该引导口，该弹性件弹性抵持于该本体和该底壁之间，该弹性件的弹性恢复力使得该弯折部抵持并定位该待测试电子装置，该弯折部上相对该引导口处开设穿插孔；该电连接单元包括具有卡位部的固定件及具有导电部的导电接触组件，该固定件通过该卡位部卡设于该盘体的卡接部上，该导电接触组件可拆卸地装设于该固定件上，该导电部包括插头，以使该插头可拔插地穿过该穿插孔以与该电子装置电性连接。

本发明的测试用托盘，当电连接单元未与盘体卡合时，锁紧件处于盘体的一侧，便于推持以使其对置于盘体内的电子装置定位，其滑动部通过弹性件的作用可在底壁上滑动以对电子装置实现弹性自锁，因而其使用方便。本发明的测试用托盘的连接单元可拆卸地设置于盘体的一端，当需要对不同规格大小的电子装置进行测试时，可将连接单元拆卸下来装设于另一型号的盘体上，因此只需要更换盘体，节约了成本，且由于电连接单元与盘体为卡设连接，更换方便。

附图说明

图1是本发明实施方式中的测试用托盘的立体示意图。

图2是图1所示的测试用托盘的分解示意图。

图3是图1所示的测试用托盘的另一个视角的分解示意图。

图4是图2所示的测试用托盘的IV处的放大图。

图5是图3所示的测试用托盘的V处的放大图。

图6是图2所示的测试用托盘的VI处的放大图。

图7是图3所示的测试用托盘的VII处的放大图。

主要元件符号说明

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

请参阅图1，本发明实施方式的测试用托盘100，用于定位待测试的电子装置(图未示)并将其电连接至检测机构(图未示)，其包括容置单元10及装设于容置单元10一侧的电连接单元30。容置单元10用于收容及定位待测试电子装置，电连接单元30用以电连接待测试电子装置与检测机构。

请参阅图2，容置单元10包括盘体11、锁紧件15及遮蔽件17。锁紧件15和遮蔽件17活动地装设于盘体11的相对两端，锁紧件15用于夹紧定位置于盘体11内的电子装置，遮蔽件17用于对电子装置的特殊部位进行遮蔽。