[发明专利]半导体装置及半导体模块在审

专利信息
申请号: 201410053381.X 申请日: 2014-02-17
公开(公告)号: CN104465578A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 久里裕二;关谷洋纪;佐佐木遥;小谷和也;田多伸光;松村仁嗣;井口知洋 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 模块
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具备:

半导体元件,具有第1面以及与第1面相反的一侧的第2面;和

含铬(Cr)的金属膜,设置在上述半导体元件的上述第2面。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,

上述半导体元件含有动作确保温度比硅(Si)的动作确保温度高的材料。

3.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,

上述材料含有硅碳化物(SiC)及氮化镓(GaN)中的某1种。

4.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,

上述金属膜具有:

含铬(Cr)的第1膜,设置在最表面侧;和

第2膜,设置在上述第1膜与上述第2面之间。

5.根据权利要求4所述的半导体装置,其中,

上述第2膜含有从由钛(Ti)、铝(Al)、金(Au)、锡(Sn)、镍(Ni)、银(Ag)构成的组中选择的至少1种。

6.根据权利要求4所述的半导体装置,其中,

上述第2膜是多层膜,上述多层膜中的至少1个膜含有从由钛(Ti)、铝(Al)、金(Au)、锡(Sn)、镍(Ni)、银(Ag)构成的组中选择的至少1种。

7.一种半导体模块,具备:

半导体装置,包括具有第1面及与第1面相反的一侧的第2面的半导体元件、以及设置在上述半导体元件的上述第2面上且含铬(Cr)的金属膜;

基板,具有导体图案;以及

接合件,设置在上述金属膜与上述导体图案之间。

8.根据权利要求7所述的半导体模块,其中,

上述导体图案含有铜(Cu)。

9.根据权利要求7所述的半导体模块,其中,

上述接合件含有锡(Sn)或银(Ag)。

10.根据权利要求7所述的半导体模块,其中,

还具备中间层,该中间层设置在上述金属膜与上述导体图案之间,具有比上述导体图案的导热系数低的导热系数。

11.根据权利要求10所述的半导体模块,其中,

上述中间层含有不锈钢。

12.根据权利要求10所述的半导体模块,其中,

上述中间层具有中间部件和一对外侧部件,

上述中间部件由上述一对外侧部件夹持,

上述中间部件含有上述不锈钢,

上述外侧部件含有镍(Ni)。

13.根据权利要求10所述的半导体模块,其中,

在上述中间层的一部分设置有中空部。

14.根据权利要求13所述的半导体模块,其中,

上述中间层具有中间部件和一对外侧部件,

上述中间部件由上述一对外侧部件夹持,

在上述中间部件上设置有上述中空部。

15.根据权利要求14所述的半导体模块,其中,

上述中空部是设置在上述中间部件的孔。

16.根据权利要求7所述的半导体模块,其中,

上述半导体元件含有动作确保温度比硅(Si)的动作确保温度高的材料。

17.根据权利要求7所述的半导体模块,其中,

上述材料含有硅碳化物(SiC)及氮化镓(GaN)中的某1种。

18.根据权利要求7所述的半导体模块,其中,

上述金属膜具有:

含铬(Cr)的第1膜,设置在最表面侧;和

第2膜,设置在上述第1膜与上述第2面之间。

19.根据权利要求18所述的半导体模块,其中,

上述第2膜含有从由钛(Ti)、铝(Al)、金(Au)、锡(Sn)、镍(Ni)、银(Ag)构成的组中选择的至少1种。

20.根据权利要求18所述的半导体模块,其中,

上述第2膜是多层膜,上述多层膜中的至少1个膜含有从由钛(Ti)、铝(Al)、金(Au)、锡(Sn)、镍(Ni)、银(Ag)构成的组中选择的至少1种。

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