[发明专利]太赫兹波检测装置、拍摄装置、成像装置以及计测装置

权利要求书

1.一种太赫兹波检测装置，其特征在于，包括：

吸收部，其吸收太赫兹波并产生热；和

转换部，其将由所述吸收部产生的热转换成电信号，

所述吸收部具有：

电介质层；

金属构造体，其被设置于所述电介质层的一侧的面，并且相互分离以规定长度的周期排列有多个；以及

金属层，其被设置于所述电介质层的另一侧的面，

所述金属构造体的所述规定长度的周期小于被所述吸收部吸收的所述太赫兹波的波长。

2.根据权利要求1所述的太赫兹波检测装置，其特征在于，

所述金属构造体的薄层电阻以及所述金属层的薄层电阻为10Ω/□以下。

3.根据权利要求1或2所述的太赫兹波检测装置，其特征在于，

所述转换部为热电传感器。

4.一种太赫兹波检测装置，其特征在于，包括：

吸收部，其吸收太赫兹波并产生热，并且包括超材料；和

转换部，其将由所述吸收部产生的热转换成电信号。

5.一种拍摄装置，其特征在于，包括：

太赫兹波产生部，其产生太赫兹波；

权利要求1～4中任一项所述的太赫兹波检测装置，所述太赫兹波检测装置对从所述太赫兹波产生部射出并透过了对象物的所述太赫兹波、或者从所述太赫兹波产生部射出并被对象物反射了的所述太赫兹波进行检测；以及

存储部，其对所述太赫兹波检测装置的检测结果进行存储。

6.一种成像装置，其特征在于，包括：

太赫兹波产生部，其产生太赫兹波；

权利要求1～4中任一项所述的太赫兹波检测装置，所述太赫兹波检测装置对从所述太赫兹波产生部射出并透过了对象物的所述太赫兹波、或者从所述太赫兹波产生部射出并被对象物反射了的所述太赫兹波进行检测；以及

图像形成部，其基于所述太赫兹波检测装置的检测结果，来生成所述对象物的图像。

7.一种计测装置，其特征在于，包括：

太赫兹波产生部，其产生太赫兹波；

权利要求1～4中任一项所述的太赫兹波检测装置，所述太赫兹波检测装置对从所述太赫兹波产生部射出并透过了对象物的所述太赫兹波、或者从所述太赫兹波产生部射出并被对象物反射了的所述太赫兹波进行检测；以及

计测部，其基于所述太赫兹波检测装置的检测结果，对所述对象物进行计测。