[发明专利]一种以胶体NiO纳米晶薄膜为空穴传输层的光电器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410058534.X 申请日: 2014-02-20
公开(公告)号: CN103840047A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 金一政;梁骁勇;叶志镇 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L51/42;H01L31/0264;H01L31/18;H01L33/00;H01L51/48
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 胶体 nio 纳米 薄膜 空穴 传输 光电 器件 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种以胶体NiO纳米晶薄膜为空穴传输层的光电器件,所述的光电器件由下至上依次为阳极、空穴传输层、活性层、电子传输层和阴极,其特征在于,所述的空穴传输层为胶体NiO纳米晶薄膜。

2.一种如权利要求1所述的光电器件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)将胶体NiO纳米晶与有机溶剂混合,配置浓度为10~80mg/ml的胶体NiO纳米晶溶液,将所述胶体NiO纳米晶溶液涂覆在衬底上,经空气中退火、臭氧处理,在衬底上形成胶体NiO纳米晶薄膜;

2)在步骤1)制备的胶体NiO纳米晶薄膜上依次制备活性层、电子传输层和阴极,得到所述的光电器件。

3.如权利要求2所述的光电器件的制备方法,其特征在于,步骤1)所述的胶体NiO纳米晶的制备步骤如下:

(1)将羧酸镍、保护配体、醇和有机溶剂混合后置于反应器中,在惰性保护气氛下搅拌并抽真空;

所述的羧酸镍与保护配体的摩尔比为1~10:1;

所述羧酸镍的浓度为0.05~0.1mol/L;

(2)将反应器中的混合物加热到100~350℃,反应后经冷却、沉淀剂沉淀、提纯处理,得到所述的胶体NiO纳米晶;

所述的羧酸镍具有如式(I)所示的通式:

(R1-COO)2Ni(Ⅰ),

所述的保护配体具有如式(Ⅱ)所示的通式:

(R2-COO)nM(Ⅱ),

其中,R1与R2独立地选自H、C2~C30烃基或芳基,所述Mn+与羧酸根结合形成的羧酸盐的反应活性低于羧酸镍,n为羧酸根数。

4.如权利要求3所述的光电器件的制备方法,其特征在于,所述的保护配体为脂肪酸锂、脂肪酸钠或脂肪酸钾;所述的脂肪酸根为硬脂酸根或油酸根。

5.如权利要求3或4所述的光电器件的制备方法,其特征在于,所述的醇为C12~C28的烷基醇;所述的有机溶剂为1-十八烯、正辛醚或二苯醚;

所述的羧酸镍与醇的摩尔比为1:1~10。

6.如权利要求2所述的光电器件的制备方法,其特征在于,步骤1)所述的胶体NiO纳米晶溶液通过旋涂、印刷或卷对卷工艺涂覆在衬底上。

7.如权利要求2所述的光电器件的制备方法,其特征在于,步骤2)所述活性层的制备步骤为:

配置浓度为5~40mg/ml的活性材料溶液,将所述活性材料溶液涂覆到胶体NiO纳米晶薄膜上,在NiO纳米晶薄膜上形成活性层。

8.如权利要求2所述的光电器件的制备方法,其特征在于,所述的电子传输层为ZnO薄膜。

9.如权利要求2所述的光电器件的制备方法,其特征在于,所述的衬底为ITO/玻璃衬底或ITO/PET衬底;所述的阴极为金属Al、Ag或Au。

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