[发明专利]一种分析储层孔隙度的方法

权利要求书

1.一种分析储层孔隙度的方法，其包括：

步骤A，通过测井资料获取储层的测井参数；

步骤B，测量储层中n个深度的岩心分析孔隙度；

步骤C，建立储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系；

步骤D，利用步骤C中所建立的储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系通过测井参数来确定待解释储层的孔隙度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测井参数包括测井实测值和/或测井计算值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测井实测值包括声波时差测井值、密度测井值、中子测井值中的至少一个。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测井计算值由声波时差测井值、密度测井值、中子测井值中的至少一个计算得到。

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，步骤C包括：

步骤K，以测井参数为横坐标，以岩心分析孔隙度为纵坐标，建立平面直角坐标系，并将n对岩心分析孔隙度和相同深度的测井参数所对应的n个数据点绘制于坐标系内，并且所述数据点的坐标为（x_j，y_j），

其中，x_j为测井参数值；

y_j为岩心分析孔隙度；

j=1、2、…、n-i；

i=0、1、2、…n-1；

步骤L，对n-i对岩心分析孔隙度和相同深度的测井参数所对应的n-i个数据点进行线性拟合获得如式（Ⅰ）所示的拟合直线；

y=a_i·x+b_i              式（Ⅰ）

其中，ai为所述拟合直线的斜率，bi为所述拟合直线的截距，ai和bi均为步骤L直线拟合过程中直接获得；

步骤M，通过式（Ⅱ）计算各数据点与步骤L中的拟合直线的距离；

dj=|ai·xj-yj+bi|(ai2+1)]]>           式(II)

步骤N，依据各数据点与步骤L中的拟合直线的距离判断是否存在异常点，并确定储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在步骤N中，依据各数据点与步骤L中的拟合直线的距离对n-i个数据点进行排序，选出距离排序最大的数据点和距离排序中部的数据点，通过式（Ⅲ）计算距离排序最大的数据点和距离排序中部的数据点的距离倍数，然后将其与距离倍数界限值进行比较，并且，当所计算的距离倍数大于距离倍数界限值时，则判断该距离排序最大的数据点为异常点，剔除该数据点，i值加1，重复步骤L到N，直到所计算的距离倍数大于距离倍数界限值，则判断为无异常数据点，步骤L中所拟合的直线即为储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系；

l=lenmax/len50              式（Ⅲ）

其中，l为距离最大的数据点的距离倍数；

lenmax为距离最大的数据点的距离；

len50为排序在中部的数据点的距离，该数据点的排序为（n-i）/2。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述距离倍数界限值为2-5。