[发明专利]辊压设备以及厚度测量系统有效

专利信息
申请号: 201410060244.9 申请日: 2014-02-21
公开(公告)号: CN104009201A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 多田健一郎;山我拓;渡边修平 申请(专利权)人: 株式会社日立电力解决方案
主分类号: H01M4/00 分类号: H01M4/00;G01B21/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;於毓桢
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 设备 以及 厚度 测量 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及辊压设备以及厚度测量系统。

背景技术

辊压设备使用于锂离子二次电池用电极材料的压缩加工等。材料压缩加工后所要求的厚度精度严格到例如±2μm左右,且近年来希望进一步高精度化(±1~2μm)。

因此,修正在压缩时由材料受到的反作用力而引起的辊的挠曲,抑制材料的两边缘部比中央部附近更薄这样的在成品厚度的宽度方向上产生波动(例如,专利文献1)。

此外,在专利文献2中记载了如下内容:为了将长尺状的二次电池用电极构件高精度地轧制为所希望的厚度,设置配设于第1和第2加压辊的出口侧的电极构件的厚度测定装置,并根据来自厚度测定装置的输出信号来控制荷重机构的荷重。作为厚度测定装置,例如使用将轧制后的电极构件从上下夹住的接触式位移传感器。

此外,在专利文献3中记载了如下内容:为了能够确保多孔质碳系成型品前体片状物的厚度的均匀性并且连续进行热固化,设置将多孔质碳系成型品前体片状物连续加热的同时挤压的旋转辊、以及测定用旋转辊挤压后的多孔质碳系成型品前体片状物的厚度的厚度测定装置,并根据厚度测定装置的测定结果来连续调节旋转辊的挤压压力。该文献记载了,使用接触式或非接触式的测定器作为厚度测定装置,另外还记载了,使用激光式、涡流式、超声波式等作为非接触式的测定方式。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利第3937561号公报

专利文献2:日本特开2001-332248号公报

专利文献3:日本特开2003-53759号公报

发明内容

辊压设备中,为了应对例如±1~2μm左右的材料的加工精度,重要的是更准确地测量材料的厚度。

根据本发明人等的研究发现,在锂离子二次电池用电极材料的压缩加工等中,当测量材料的厚度时,由于材料的松弛、皱折而无法准确地测量。

首先,根据本发明人等的研究,材料的挠曲、皱折如下产生。例如,在电极材料的压制加工(压缩加工)中,对在金属箔集电体的基材上涂布有电极活性物质的材料进行压制加工。在基材的宽度方向的两端存在电极活性物质的未涂覆部的情况下,就压制加工后的电极材料而言,涂布有电极活性物质之处的基材(涂覆部)被轻微轧制。因此,宽度方向的两端的基材(未涂覆部)由于未被轧制而在材料长度方向上受到张力,但其之间的基材(涂覆部)由于被轻微轧制而在材料长度方向上会产生松弛。并且,该松弛也成为皱折的重要因素。

并且,特别是在材料的上下方设置激光式传感器等来测量从上下的传感器到材料为止的距离从而求出材料厚度的厚度计中,材料的松弛、皱折成为无法准确地进行厚度测量的重要因素。

即,对于材料,如果不以接近垂直的角度进行距离测量,则在原理上测量误差变大的传感器中,由于材料的松弛、皱折而形成材料相对于传感器倾斜配置的状态,产生测量误差。特别是在上下的传感器的轴偏移配置的情况下,在材料相对于传感器倾斜配置的状态下,测量误差变得极大。

此外,由于在材料被搬运的状态下进行测量,因此如果存在材料的松弛、皱折,则会在到材料为止的距离发生变化时进行测量,而成为测量误差的重要因素。

然而,以往在辊压设备中,并未考虑材料的松弛、皱折来进行材料的厚度测量。

此外,专利文献2、专利文献3中也完全没有探讨如下内容:厚度测量中,在二次电池用电极构件、多孔质碳系成型品前体片状物上产生松弛、皱折,它们对厚度测量产生影响。

本发明的目的在于提供能够更准确地测量材料的厚度的辊压设备以及厚度测量系统。

本发明的特征在于,在测量带状材料厚度的厚度测量传感器的前和/或后设置弹性导辊。

根据本发明,能够更准确地测量材料的厚度。

上述以外的课题、构成以及效果通过以下的实施方式的说明会清楚。

附图说明

图1是说明本发明一个实施例中的厚度测量状态的图。

图2是示意性地表示本发明一个实施例的辊压设备中使用的弹性导辊的图。

图3是说明比较例中的厚度测量状态的图。

图4是示意性地表示本发明一个实施例的辊压设备中使用的导辊(展开辊)的图。

图5是本发明一个实施例的辊压设备中的辊压机主体的主视图。

图6是本发明一个实施例的辊压设备的生产线整体图。

图7是示意性地表示被辊压的材料的图。

符号说明

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