[发明专利]超声波测定装置、超声波图像装置以及测定方法在审

专利信息
申请号: 201410064932.2 申请日: 2014-02-25
公开(公告)号: CN104042235A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 林正树;渡边亮基 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 超声波 测定 装置 图像 以及 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及超声波测定装置、超声波图像装置以及测定方法等。

背景技术

作为用于向对象物照射超声波、接收来自对象物内部的声波阻抗不同的界面的反射波并取得对象物的图像等的装置,存在超声波测定装置或超声波图像装置。利用这些装置可以测定皮下脂肪的厚度或肌肉的厚度。

例如,在专利文献1中公开了下述方法:手动使超声波探测器沿着被检体表面移动,通过光学位置传感器以及角速度传感器检测平行移动量以及旋转量,由此获得B模式图像,确定皮下脂肪的厚度。

【现有技术文献】

【专利文献】

专利文献1:日本特开2009-77754号公报

但是,在这些方法中,在测定所谓的腕或脚这样曲面多的部分时,存在相对于被检体超声波探测器(probe)容易倾斜、难以准确测定等问题。

发明内容

根据本发明的若干实施例,提供超声波测定装置、超声波图像装置以及测定方法等,其能够获取超声波探测器的倾斜信息,当超声波探测器倾斜时,向使用者报告。

本发明的一实施例涉及的超声波测定装置包括:发送部,进行超声波的发送处理;接收部,进行超声波回波的接收处理;以及处理部,进行超声波测定的控制处理,所述处理部根据基于来自被检体和超声波测定用薄片的界面的超声波回波或来自所述超声波测定用薄片的超声波回波的接收信号,获取超声波探测器的倾斜信息。

根据本发明的一实施例,处理部能够获取超声波探测器的倾斜信息,所以能够向使用者报告有无超声波探测器的倾斜。其结果是,使用者能够将超声波探测器相对于被检体保持为不倾斜的状态,并进行测定。

在本发明的一实施例中也可以是,所述处理部根据所述接收信号,获取所述界面的超声波测定中的深度信息,根据所述深度信息获取所述倾斜信息。

由此,处理部通过获取被检体和超声波测定用薄片的界面的超声波测定中的深度信息,能够获取超声波探测器的倾斜信息。

在本发明的一实施例中也可以是,所述处理部进行所述深度信息与所述超声波测定用薄片的基准厚度信息的比较处理,以获取所述倾斜信息。

由此,处理部根据深度信息以及超声波测定用薄片的基准厚度信息,能够获取取超声波探测器的倾斜信息。

在本发明的一实施例中也可以是,所述深度信息是从所述超声波测定用薄片的与所述超声波探测器相对的面至所述超声波测定用薄片与所述被检体的所述界面为止的超声波出射方向的深度信息。

由此,当超声波探测器相对于被检体倾斜时,基于深度信息的深度大于超声波测定用薄片的基准的厚度,因此,处理部通过比较深度信息和超声波测定用薄片的基准厚度信息,能够获取超声波探测器的倾斜信息。

在本发明的一实施例中也可以是,所述处理部通过进行将基于所述接收信号的A模式波形中的振幅值或基于所述接收信号的B模式图像中的亮度值与规定的阈值进行比较的处理,指定所述界面。

由此,处理部根据基于来自界面的超声波回波的A模式波形或B模式图像,能够指定被检体和超声波测定用薄片的界面,因此,能够获取界面的超声波测定中的深度信息。

在本发明的一实施例中也可以是,所述处理部计算基于所述接收信号的B模式图像中的各深度的亮度方差,根据算出的所述亮度方差指定所述超声波测定用薄片与所述被检体的所述界面。

由此,处理部根据B模式图像的亮度方差,能够指定被检体和超声波测定用薄片的界面,因此,即使来自界面的超声波回波弱,也能够获取界面的超声波测定中的深度信息。

在本发明的一实施例中也可以是,所述处理部根据所述接收信号进行在所述超声波测定用薄片中记录的编码信息的解析处理,根据所述编码信息获取所述超声波测定用薄片的所述基准厚度信息。

由此,处理部进行编码信息的解析处理,并能够获取对应于使用的超声波测定用薄片的合适的基准厚度信息,因此,能够利用合适的基准厚度信息获取超声波探测器的倾斜信息。

在本发明的一实施例中也可以是,所述处理部根据所述接收信号进行获取在所述超声波测定用薄片中记录的编码信息的处理,根据获取到的所述编码信息指定所述超声波探测器相对于所述超声波测定用薄片的扫描地点,根据所述接收信号,获取被指定的所述扫描地点中的所述超声波探测器的所述倾斜信息。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410064932.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top