[发明专利]刻蚀方法与刻蚀组成物有效
申请号: | 201410068712.7 | 申请日: | 2014-02-27 |
公开(公告)号: | CN104882374B | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 杨大弘 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L27/11551;H01L27/11578 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 刻蚀 方法 组成 | ||
1.一种刻蚀方法,包括:
提供一衬底;
进行一刻蚀,以在该衬底中形成至少一开口;以及
进行一辅助刻蚀,以移除该开口中的至少一刻蚀残留物,进行该辅助刻蚀包括:
在该开口中形成一辅助刻蚀层,以覆盖该刻蚀残留物,其中该辅助刻蚀层中包括一刻蚀成分;以及
对该辅助刻蚀层进行一处理工艺,藉此使该刻蚀成分刻蚀该刻蚀残留物;
其中该辅助刻蚀层包括:介质、位于该介质中的载体,及包覆在该载体中的刻蚀成分;该介质为流体,以形成具有流动性的辅助刻蚀层;
该处理工艺包括:对该辅助刻蚀层施加一能量或使该辅助刻蚀层暴露于一气体下。
2.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中该能量包括热、射线、照光、微波、辐射、重力、离心力、电场、磁场、机械能或其组合。
3.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中该气体包括臭氧。
4.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中该刻蚀成分包括碱金属氢氧化物、四级铵氢氧化物、氢氟酸、氢氟酸与无机酸的混合物、氢氟酸与有机酸的混合物、含氟气体或其组合。
5.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中该载体包括多孔材料,该多孔材料包括活性碳、纳米多孔材料、纳米碳管或其组合。
6.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中该载体包括胶囊,该处理工艺使得该辅助刻蚀层中的该胶囊破裂,藉此释放出该刻蚀成分。
7.根据权利要求6所述的刻蚀方法,其中该胶囊的材料包括热塑性树脂、感旋旋光性树脂或其组合。
8.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中该介质包括有机材料,该有机材料包括光刻胶、底抗反射层(BARC)或旋涂式玻璃(SOG)。
9.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中该介质包括无机材料。
10.根据权利要求1所述的刻蚀方法,其中在该开口中形成该辅助刻蚀层的步骤包括:
在该衬底上形成该辅助刻蚀层,该辅助刻蚀层至少填满该开口;以及
移除部分该辅助刻蚀层。
11.一种刻蚀组成物,包括:
一介质;
一载体,位于该介质中;以及
一刻蚀成分,包覆在该载体中;
其中,该介质为流体,该载体包括多孔材料或胶囊,该多孔材料包括活性碳、纳米多孔材料、纳米碳管或其组合,该胶囊的材料包括热塑性树脂、感旋旋光性树脂或其组合。
12.根据权利要求11所述的刻蚀组成物,其中该刻蚀成分包括碱金属氢氧化物、四级铵氢氧化物、氢氟酸、氢氟酸与无机酸的混合物、氢氟酸与有机酸的混合物、含氟气体或其组合。
13.根据权利要求1l所述的刻蚀组成物,其中该介质包括有机材料,该有机材料包括光刻胶、底抗反射层(BARC)或旋涂式玻璃(SOG)。
14.根据权利要求11所述的刻蚀组成物,其中该介质包括无机材料。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于旺宏电子股份有限公司,未经旺宏电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410068712.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基板处理装置及基板处理方法
- 下一篇:高压电源快速切换方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造