[发明专利]一种快速检测重金属离子的多通道传感器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201410072709.2 申请日: 2014-02-28
公开(公告)号: CN104880501B 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 张杨;关敏;王成艳;曾一平 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01N27/414 分类号: G01N27/414
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 快速 检测 重金属 离子 通道 传感器 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种InP基HEMT的多通道传感器,用于检测重金属离子,其特征在于,包括:

多个用于同时检测不同重金属离子的InP基HEMT单元传感器,各该单元传感器具有检测溶液样品中的重金属的检测区域;

一个微流控片,用于将所述溶液样品分流至各单元传感器,且该微流控片具有多个微流控通道,各微流控通道与所述各单元传感器的所述检测区域连通;所述微流控片还包括注入孔,该注入孔与每个微流控通道相连,用于将溶液样品从注入孔引入所述InP基HEMT的栅极区域;

所述各单元传感器包括InP基HEMT和位于InP基HEMT的栅极的用于检测重金属离子的敏感膜,其能够根据重金属离子的含量而使其电荷分布发生变化,从而影响InP基HEMT的栅极电荷,使得InP基HEMT的源漏电流发生变化;

所述微流控片与所述多个InP基HEMT单元传感器键合形成;

该HEMT包括衬底(101)、缓冲层(102)、隔离层(104)、δ硅掺杂层(105)、势垒层(106)、帽层(107),其中各层结构分别为:

1000μm的InP基的衬底、Ino.52Alo.48As缓冲层(102)的厚度为1μm;

Ino.53Gao.47As沟道层(103)的厚度为20nm;

Ino.52Alo.48As隔离层(104)的厚度为4nm;

δ硅掺杂层(105)的厚度为4nm;

Ino.52Alo.48As势垒层(106)的厚度为20nm;

帽层(107)为高掺杂的Ino.53Gao.47As帽层,厚度为30nm。

2.如权利要求1所述的InP基HEMT的多通道传感器,其特征在于,所述微流控片使用PDMS制成。

3.如权利要求1所述的InP基HEMT的多通道传感器,其特征在于,所述的敏感膜由在栅极固定可以特异性识别重金属离子的分子得到,其中分子包括单链DNA,重金属离子单克隆抗体,DNA酶。

4.如权利要求1所述的InP基HEMT的多通道传感器,其特征在于,所述各InP基HEMT的栅极区域面积为500~1500μm2

5.一种制造如权利要求1-4中任意一项的InP基HEMT的多通道传感器的方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、制备InP基HEMT;

S2、在所述InP基HEMT上形成源漏电极和栅极金属电极;

S3、在多个所述InP基HEMT的栅极金属电极上形成用于同时检测不同重金属离子的敏感膜,其能够根据重金属离子的含量而使其电荷分布发生变化,从而影响InP基HEMT的栅极电荷,使得InP基HEMT的源漏电流发生变化;

S4、将一个微流控片与所述多个InP基HEMT键合,使各微流控通道与所述多个InP基HEMT的栅极金属电极的区域连通;其中,微流控片还包括注入孔,该注入孔与每个微流控通道相连,用于将溶液样品从注入孔引入所述InP基HEMT的栅极区域。

6.如权利要求5所述的制造InP基HEMT的多通道传感器的方法,其特征在于,所述微流控片使用PDMS制成。

7.如权利要求5所述的制造InP基HEMT的多通道传感器的方法,其特征在于,所述的敏感膜由在所述InP基HEMT的栅极金属电极区域固定可以特异性识别重金属离子的分子得到,其中分子包括单链DNA,重金属离子单克隆抗体,DNA酶。

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