[发明专利]一种常规互感器的合并单元延时参数测量方法

说明书

技术领域

 本发明涉及智能变电站技术领域，具体涉及一种常规互感器的合并单元延时参数测量方法。  

背景技术

合并单元是智能变电站的重要设备之一，用以对来自二次转换器的电流和/或电压数据进行时间相关组合的物理单元。在传统互感器情况下，合并单元的采样、合并同步处理时间为合并单元的延时时间。在差动保护中为了使各侧合并单元的延时时间相协调，需要对合并单元的延时参数进行设置。现有技术的合并单元延时参数的测试方法，一方面需要采用高精度的时间同步信号参与测试过程，而时间同步信号的产生需要时间同步对时装置，测试方法复杂，测试操作程序繁琐，不利于智能变电站现场验收试验环节对合并单元延时参数进行核对性校验。另一方面，现有技术的合并单元延时参数的测试方法，是针对面向电子式互感器合并单元（合并单元的输入输出数据都是数字报文形式）的测试方法，不能用于面向常规互感器的合并单元延时参数的测量。 

发明内容

本发明为了克服以上技术的不足，提供了一种精确测量智能变电站中面向常规互感器的合并单元的延时参数的常规互感器的合并单元延时参数测量方法。 

本发明克服其技术问题所采用的技术方案是： 

本常规互感器的合并单元延时参数测量方法，包括故障电流模拟电路、控制电路、光信号报文接收及光电转换电路，测量方法如下步骤：

a) 控制电路中的控制芯片触发故障电流模拟电路，使故障电流模拟电路产生故障电流，且控制电路中的控制芯片记录触发故障电流模拟电路产生故障电流的时间t1，控制电路中的控制芯片等待接收被测合并单元输出的光信号报文；

b)产生的故障电流输入到输入到被测合并单元的A/D采样输入端子；

c) 被测合并单元输出将接收到的故障电流经A/D转换、合并、同步等处理后，转换为光信号报文输出，输出的光信号报文传输至控制电路中的控制芯片，且控制电路中的控制芯片记录接收光信号报文的时间t2；

d) 根据公式 计算合并单元延时参数Δt公式中Δt为控制芯片接收光信号报文并进行光电转换的延时时间。

为了使测量精度准确，控制芯片触发故障电流模拟电路的信号发出至故障电流的产生之间的延时为Δt≤0.1μs，控制芯片接收光信号报文后A/D采用和处理时间为Δt≤1.4μs，Δt+Δt+Δt≤11.5μs。 

为了提高响应速度，上述控制电路中的控制芯片为TMS320F2812型DSP芯片。 

本发明的有益效果是：可精确测量智能变电站中面向常规互感器的合并单元的延时参数。该测量方法不需要时间同步信号参与测试过程，通过将测量的延时数据除以合并单元采样点的间隔时间，并进行取整运算得出准确延时点数，消除了测量误差。便于在智能变电站现场验收试验环节对合并单元延时参数进行核对性校验，原理简单，易于实现。 

附图说明

图1为本发明合并单元延时参数测量方法的电路框图； 

图2为本发明合并单元延时参数测量方法的工作流程图。

具体实施方式

下面结合附图1、附图2对本发明做进一步说明。 

本常规互感器的合并单元延时参数测量方法，包括故障电流模拟电路、控制电路、光信号报文接收及光电转换电路，测量方法如下步骤： 

（1）如附图1所示，控制电路中的控制芯片触发故障电流模拟电路，使故障电流模拟电路产生故障电流，且控制电路中的控制芯片记录触发故障电流模拟电路产生故障电流的时间t1，控制电路中的控制芯片等待接收被测合并单元输出的光信号报文；

（2）产生的故障电流输入到输入到被测合并单元的A/D采样输入端子；

（3）被测合并单元输出将接收到的故障电流经A/D转换、合并、同步等处理后，转换为光信号报文输出，输出的光信号报文传输至控制电路中的控制芯片，且控制电路中的控制芯片记录接收光信号报文的时间t2；

（4）根据公式计算合并单元延时参数Δt,公式中Δt为控制芯片接收光信号报文并进行光电转换的延时时间。