[发明专利]平面检测机的各个检测器之间的高度差的确定方法

说明书

技术领域： 

本发明涉及一种平面检测校正方法。

背景技术：

目前陶瓷厂的抛光砖生产线都需要进行瓷砖平整度检测，平面检测机应运而生，用以代替人工进行平整度检测。平面检测机使用激光位移检测器进行瓷砖平整度检测，一台机器上安装3到7个检测器。由于测量需要，所有的检测器必须保证在同一水平面，但是安装时是很难做到的，这样就需要校正各个检测器之间的高度差。

市面上的平面检测机大部分均使用校正条进行机器自身校正。使用校正条是把一块长条金属块放在检测器下面，理论上校正条是很光滑很平的，把校正条当成水平面，比较各个检测器的数值，这样就可以计算出各个检测器的高度差。但是校正条是金属制品，容易受潮、生锈、热胀冷缩、被氧化，造成校正不准确，从而严重影响了平面检测机检测瓷砖平整度的数据准确性。

发明内容：

本发明的发明目的在于提供一种无需要特殊工具且快捷方便地就能实现校正准确的平面检测机的各个检测器之间的高度差的确定方法。

本发明是这样实现的，采用间距相同的n=3—7个检测高度的检测器，然后再瓷砖上划定n×n个点，然后瓷砖水平经过检测器，使n个纵向的n个点组在相应的检测器的正下方经过相应的检测器，这样，每个检测器检测出纵向n个点的高度数值组m，然后90度旋转瓷砖，并使瓷砖水平经过检测器，使n个纵向的n个点组在相应的检测器的正下方经过相应的检测器，这样，每个检测器检测出纵向n个点的高度数值组m’，比较不同的检测器对同一个点的检测数据，就能得出不同的检测器间的高度差。

本发明与已有技术相比，具有无需要特殊工具且快捷方便地就能实现校正准确的优点。

附图说明：

图1为本发明工艺流程图；

图2为两次检测得出的与相应的点对应的两组数据的比较。

具体实施方式：

现结合附图和实施例对本发明做进一步详细描述：

如图所示，本发明采用间距相同的n=3—7（实施例采用5个）个检测高度的检测器1，然后再瓷砖2上划定n×n个点（<A1、A2、A3、A4、A5>；<B1、B2、B3、B4、B5>；<C1、C2、C3、C4、C5>；<D1、D2、D3、D4、D5>；<E1、E2、E3、E4、E5>），然后瓷砖水平经过检测器，使n个纵向的n个点组在相应的检测器的正下方经过相应的检测器，这样，每个检测器检测出纵向n个点的高度数值组m（<m11、m12、m13、m14、m15>；<m21、m22、m23、m24、m25>；<m31、m32、m33、m34、m35>；<m41、m42、m43、m44、m45>；<m51、m52、m53、m54、m55>），然后水平逆时针90度旋转瓷砖，并使瓷砖水平经过检测器，使n个纵向的n个点组在相应的检测器的正下方经过相应的检测器，这样，每个检测器检测出纵向n个点的高度数值组m’ （<m^’11、m^’12、m^’13、m^’14、m^’15>；<m^’21、m^’22、m^’23、m^’24、m^’25>；<m^’31、m^’32、m^’33、m^’34、m^’35>；<m^’41、m^’42、m^’43、m^’44、m^’45>；<m^’51、m^’52、m^’53、m^’54、m^’55>），比较不同的检测器对同一个点的检测数据，就能得出不同的检测器间的高度差。