[发明专利]一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构及方法在审
申请号: | 201410076829.X | 申请日: | 2014-03-04 |
公开(公告)号: | CN103905047A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 刘成军 | 申请(专利权)人: | 东莞博用电子科技有限公司 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 周详 |
地址: | 523808 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 adc 采样 速率 电路 系统 拓扑 结构 方法 | ||
1.一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构,其特征在于,包括模拟信号预处理模块、若干个通道的模拟信号采样保持模块、零传输损耗模拟开关、模拟信号驱动模块及模数转换器;所述模拟信号预处理模块输出端分别连接若干个通道的模拟信号采样保持模块;所述若干个通道的模拟信号采样保持模块分别连接零传输损耗模拟开关;所述零传输损耗模拟开关的输出端连接模数转换器。
2.根据权利要求1所述的提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构,其特征在于,所述模拟信号预处理模块为跟随处理外界信号,将外界信号转换成可处理的电压信号,送到模拟信号采样保持模块的模拟信号预处理模块。
3.根据权利要求1所述的提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构,其特征在于,所述若干个通道的模拟信号采样保持模块为按照一定的时序周期性的工作,通过零传输损耗模拟开关和模拟信号驱动模块把信号传递到模数转换器处理的模拟信号采样保持模块。
4.根据权利要求1所述的提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构,其特征在于,所述零传输损耗模拟开关为用以进行通道间的切换,开关前后的信号没有损耗零传输损耗模拟开关。
5.根据权利要求1所述的提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构,其特征在于,所述模拟信号驱动模块为用以增强信号的驱动能力,驱动后面的模数转换器的模拟信号驱动模块。
6.一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,所述模拟信号预处理模块始终跟随处理外界信号,将外界信号转换成可处理的电压信号,送到若干个通道的采样保持模块;
S2,所述若干个通道的模拟信号采样保持模块周期性地工作,把外界信号完整地保存好,根据处理需要开启对应的通道;
S3,连续处理多个多个通道时,由于已经把外界信号保存下来了,能反映外界信号的实时特性,所以不需要高速ADC就能实现正确的ADC转换。
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