[发明专利]一种适用于显微激光拉曼分析的包裹体薄片热处理方法有效
申请号: | 201410079649.7 | 申请日: | 2014-03-05 |
公开(公告)号: | CN103868783A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 曾令君;姜玉航;严爽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院广州地球化学研究所 |
主分类号: | G01N1/44 | 分类号: | G01N1/44 |
代理公司: | 广州科粤专利商标代理有限公司 44001 | 代理人: | 刘明星 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 显微 激光 分析 包裹 薄片 热处理 方法 | ||
技术领域:
本发明属于包裹体实验技术领域,具体涉及一种适用于显微激光拉曼分析的包裹体薄片热处理方法。
背景技术:
包裹体是成岩成矿流体(含气液的流体或硅酸盐熔融体)在矿物结晶生长过程中,被包裹在矿物晶格缺陷中的、至今尚在主矿物中封存并与主矿物有着相的界限的那一部分物质。它可以提供当时地质环境的各种地质地球化学信息。包裹体成分分析是包裹体研究的基本任务之一,它可以尽可能地提供准确详细的有关古流体组成的物理化学信息,以便建立古流体作用过程的地球化学模型。
目前对包裹体的成分分析主要是通过显微激光拉曼光谱(LRM)技术。通过显微激光拉曼光谱技术对矿物中的气相、液相、水溶液相和固体包裹体成分进行研究,提供了较为简单可靠的测试手段,避免了样品污染,有利于对不同期次、不同世代、不同成因包裹体的地球化学研究(张美珍等,石油实验地质,2008)。利用拉曼光谱对流体包裹体的成分进行定性分析很方便,只需特征拉曼峰位置就可以对其成分进行判断(葛云锦等,岩矿测试,2008)。
在测定包裹体成分的过程中经常会遇到测不出拉曼峰的情况,即测出的拉曼光谱是胞峰的形状,这样就导致包裹体的成分无法测出。原因主要有以下几方面:1、所测包裹体的深度较大,导致仪器获得的信号较弱;2、薄片表面不干净,粘附有有机胶,可能产生表面荧光,并且有些主矿物(如萤石)本身会产生荧光,荧光会屏蔽一些比较弱的拉曼散射,干扰分析结果;3、主矿物裂隙中残留的有机质成分;4、晶体生长和薄片制作过程中矿物本身积累了热应力产生的荧光效应,干扰仪器获得信号。对于晶体生长和薄片制作过程中积累的热应力以及包裹体表面和裂隙中残留的有机质(有机质胶)所产生的荧光效应,目前还没有很好的方法累消除。
发明内容:
本发明的目的是克服现有包裹体拉曼测试结果的不足,提供一种能够克服晶体生长和薄片制作过程中积累的热应力以及包裹体表面和裂隙中残留的有机质(有机质胶)所产生的荧光效应的适用于显微激光拉曼分析的包裹体薄片热处理方法,使包裹体拉曼测试的结果更加准确有效。
本发明是在包裹体未被破坏的前提下,通过加热包裹体薄片去除在晶体生长和薄片制作过程中矿物积累的热应力所产生的荧光效应,以及包裹体薄片表面和裂隙中残留的有机质(有机质胶)所产生的荧光效应,从而使包裹体拉曼测试的结果更加准确有效,而实现本发明的目的。
本发明的适用于显微激光拉曼分析的包裹体薄片热处理方法,其特征在于,包括以下步骤:
a、将包裹体薄片和载玻片加热使包裹体薄片与载玻片分离,然后将包裹体薄片放入酒精中浸泡,取出再用酒精拭除包裹体薄片表面的有机胶;
b、对步骤a处理好的包裹体薄片进行岩相学观察,划分包裹体类型,进行包裹体初步显微测温的研究,确定该包裹体薄片内包裹体的最低均一温度;
c、根据初步显微测温结果确定包裹体薄片的热处理温度,包裹体薄片的热处理温度较包裹体的最低均一温度低40~80℃,但热处理温度不应低于80℃,也不应高于150℃;
d、将包裹体薄片在电热板上升温至所定的热处理温度恒温20min,然后缓慢降至室温,再进行显微激光拉曼光谱分析。
所述的步骤a的将包裹体薄片和载玻片加热使包裹体薄片与载玻片分离,然后将包裹体薄片放入酒精中,取出再用酒精拭除包裹体薄片表面的有机胶优选为将包裹体薄片及载玻片放在80℃的温控板上加热,使包裹体薄片与载玻片分离,再将包裹体薄片放进装有酒精的玻璃皿中浸泡24小时,将包裹体薄片取出,用带有酒精的棉签顺着一个方向反复拭擦包裹体薄片的两个表面,清除表面的有机胶。
所述步骤d的进行显微激光拉曼光谱分析,其包裹体应尽量选择接近包裹体薄片表面。
相比与现有技术,本发明的有益效果如下:
1、本发明利用包裹体薄片的特性,对包裹体薄片进行热处理,减少了荧光效应对显微激光拉曼光谱分析结果的影响因素,显著提高了显微激光拉曼测试分析结果的灵敏度。
2、本发明通过对不同类型的包裹体薄片的热处理研究,确定了基于包裹体初步显微测温研究的热处理温度的选择原则,在保证包裹体不被破坏的前提下提高显微激光拉曼分析的灵敏度。
3、本发明操作简单,操作过程容易控制。
因此,本发明的方法能够克服晶体生长和薄片制作过程中积累的热应力以及包裹体表面和裂隙中残留的有机质(有机质胶)所产生的荧光效应,因此可以有效地利用显微激光拉曼测定经过本发明的方法处理后的包裹体的成分,并且该方法成本低廉、流程简单、易于操作和推广应用。
附图说明:
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