[发明专利]面向文物亚微米级变化检测的相机三点重定位方法

权利要求书

1.一种面向文物亚微米级变化检测的相机三点重定位方法，其特征在于，所述方法包括首次定位和重定位步骤；

（1）在水平激光线上选取C类基准点，在两条竖直激光线上选取A类基准点和B类基准点；

（2）记录第一激光测距仪和第二激光测距仪到墙壁的距离读数分别为第一距离和第二距离，则首次定位完成；

（3）通过调整使水平激光线过C类基准点；第一竖直激光线、第二竖直激光线分别过A类和B类基准点；

（4）打开第一激光测距仪，旋转载物平台，使第一激光测距仪投射的激光点落在第一竖直激光线上，移动支架位置，使第一激光测距仪测距读数接近第一距离；

（5）打开第二激光测距仪，旋转第二激光测距仪，使第二激光测距仪投射的激光点落在第二竖直激光线上，调节支架位置，使第二激光测距仪读数接近第二距离；

（6）重复步骤（4）和（5），使得第一激光测距仪读数和第二激光测距仪读数逼近第一距离和第二距离，然后再次确认调节支架高度，使得第一激光标线仪的水平激光线过C类基准点，则重定位完成；

（7）通过图像拼接算法把相机的初定位和重定位图像拼接到一起。

2.根据权利要求1所述的一种面向文物亚微米级变化检测的相机三点重定位方法，其特征在于，所述在水平激光线上选取C类基准点，在两条竖直激光线上选取A类基准点和B类基准点的操作具体为：

通过第一激光标线仪获取水平激光线，在水平激光线上选取一个或多个标志点作为C类基准点；

第一激光测距仪在墙壁上投射一个第一激光点，旋转第二激光测距仪投射出第二激光点，打开地面上的第二激光标线仪和第三激光标线仪，使投射的第一竖直激光线和第二竖直激光线分别经过第一激光点和第二激光点，在第一竖直激光线上选取一个或多个特征点作为A类基准点，第二竖直激光线上选取一个或多个特征点作为B类基准点。

3.根据权利要求1所述的一种面向文物亚微米级变化检测的相机三点重定位方法，其特征在于，所述通过调整使水平激光线过C类基准点；第一竖直激光线、第二竖直激光线分别过A类和B类基准点的操作具体为：

打开第一激光标线仪，根据C类基准点调节支架，使水平激光线过C类基准点；

在第二相机拍摄的A类、B类基准点图片找出A类、B类基准点，打开第二激光标线仪和第三激光标线仪，使第一竖直激光线、第二竖直激光线分别过A类和B类基准点。