[发明专利]一种任意波形失真度的确定方法在审
申请号: | 201410086501.6 | 申请日: | 2014-03-10 |
公开(公告)号: | CN103823120A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 孙璟宇;王中宇;梁志国 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学;中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | G01R29/00 | 分类号: | G01R29/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 成金玉 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 任意 波形 失真度 确定 方法 | ||
1.一种任意波形失真度的确定方法,其特征在于实现步骤如下:
(1)使用波形获取设备采样获得被测任意波形采样序列,所述任意波形的模型已知;
(2)使用相同的采样速率采样任意波形的已知模型,并使用非线性最小二乘拟合搜寻算法,使采样获得的采样序列与实际获得的被测任意波形采样序列在时间域上“对准”,得到“对准”的模型采样序列;
(3)根据搜寻得到的“对准”的模型采样序列获得被测任意波形采样序列的最优期望曲线;
(4)根据获得的被测任意波形采样序列及其最优期望曲线计算得到被测任意波形的失真度。
2.根据权利要求1所述的任意波形失真度的确定方法,其特征在于:所述步骤(2)具体实现如下:
(21)使用与实际获取任意波形时相同的采样速率采集任意波形的模型,获得与被测波形采样序列时间长度一致的模型的采样序列;
(22)计算二者之间最小二乘意义下的残差平方根;
(23)通过时间延迟,即在时域上平移模型,在被测任意波形一个周期的时间内,重复上述过程,找到最小残差平方根所对应的平移模型曲线。
3.根据权利要求1所述的任意波形失真度的确定方法,其特征在于:所述步骤(3)具体实现如下:
(31)在最小二乘意义下,根据上述获得的平移模型曲线,通过幅度缩放与直流偏置,获得与实测任意波形最佳的拟合曲线,即最优期望曲线。
4.根据权利要求1所述的任意波形失真度的确定方法,其特征在于:所述步骤(4)具体计算过程实现如下:
(41)根据任意波形失真度的定义,计算获得的被测任意波形数据的总体失真度;
(42)上述计算的总体失真度中包含了波形获取设备引入的误差,修正掉该误差,即得到被测任意波形的失真度。
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