[发明专利]一种用于柱塞件斜槽尺寸测量的量具结构

权利要求书

1.一种用于柱塞件斜槽尺寸测量的量具结构，其特征在于：包括底盘（1），在底盘（1）上分别布置测量单元及定位单元；

     所述测量单元的结构如下：

     包括滑柱座（7），滑柱（5）贯穿装置于所述滑柱座（7）内，所述滑柱（5）的一端与百分表（2）的测量端抵接，另一端连接摆动杆（14），位于摆动杆（14）的端部延伸形成凸缘（9）；

     所述定位单元的结构如下：

     包括定位座块（8），位于所述定位块（8）的一端，在所述底盘（1）上还装置扁位定位单元，位于所述定位块（8）的另一端，在所述底盘（1）上还装置顶柱座（11），顶柱座（11）的端部延伸形成顶柱（10）；

     所述扁位定位单元的结构如下：

     包括扁位柱（6）、嵌接于底盘（1）内部的弹簧定位板（15）及定位套（19），所述弹簧定位板（15）的端部通过第二压缩弹簧（16）连接伸缩定位块（17），定位块（17）的端部延伸形成凸台（18）。

2.如权利要求1所述的一种用于柱塞件斜槽尺寸测量的量具结构，其特征在于：位于所述滑柱座（7）内，在所述滑柱（5）的外周还套装第一压缩弹簧（13）。

3.如权利要求1所述的一种用于柱塞件斜槽尺寸测量的量具结构，其特征在于：所述定位块（8）上开有“V”形槽。

4.如权利要求1所述的一种用于柱塞件斜槽尺寸测量的量具结构，其特征在于：所述凸缘（9）为圆柱形，所述凸缘（9）的直径与柱塞件斜槽（101）的间距成正比。