[发明专利]液晶滴注控制系统、方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种液晶滴注控制系统、方法及装置。

背景技术

液晶面板是TFT-LCD（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管-液晶显示装置）的核心部件，通常包括：对盒而置的彩膜基板和阵列基板，以及填充于对盒腔内的液晶，其中液晶的填充通常采用ODF（One Drop Filling，液晶滴注法）来实现，由此可知，液晶的填充量直接影响液晶面板的盒厚，液晶面板的盒厚是TFT-LCD的光学性能和显示质量的主要影响因素之一。

现有的液晶面板制作过程中，通常需要用于监测液晶液滴数量的液晶滴注系统和监测液晶液滴质量的液晶质量监测系统对液晶面板填充一定质量的液晶。如图1所示，液晶质量监测系统包括离线状态的液晶滴注机1、称量装置3、以及分别与液晶滴注机1、称量装置3连接的控制装置（图中未示出），具体的工作过程如下：液晶滴注机1在离线状态时，向称量装置3的液晶盛放器具31滴下样本数量的液晶液滴11，称量装置3称量该样本的液晶液滴11的总质量，控制装置根据样本数量的液晶液滴11的总质量确定每滴液晶的质量。

如图2所示，现有的液晶滴注系统包括：液晶滴注机1、光亮感应装置，以及分别与液晶滴注机1、光亮感应装置连接的控制装置（图中未示出）；其中，光亮感应装置包括分别位于液晶滴注机1滴下的液晶液滴11的两侧的发光装置21和接收装置22，发光装置21可以为发光二极管。液晶滴注系统具体工作过程如下：光亮感应装置的发光装置21发出光线，接收装置22进行光线收集，当液晶液滴11滴下瞬间，发光装置21发出的光线被遮挡，导致接收装置22收到的光线亮度发生变化，此时控制装置进行数字记录，每滴下一滴液晶，记录的数字相应的增加，因此，控制装置记录的数字即对应滴下的液晶总数，由于液晶质量监测系统已经得到液晶液滴的质量，当液晶滴数等于设定的液晶滴数时，控制液晶滴注机停止滴注，此时，液晶面板8内液晶填充量等于设定填充量。

现有技术存在的缺陷在于，液晶质量监测系统监测的液晶液滴的质量为液晶滴注机离线状态时的液晶液滴质量，并且为样本数量液晶液滴的平均值，因此，使得液晶滴注系统根据该液晶液滴质量向液晶面板的填充的液晶填充量精度较低，从而使得液晶显示装置的显示质量较差；并且，液晶滴注系统每完成数片液晶面板的滴注后，液晶滴注系统需要停止工作，在离线状态重新监测液晶滴注机的液晶液滴的质量，使得生产效率较低。

发明内容

本发明提供了一种液晶滴注控制系统、方法及装置，用以提高液晶面板的液晶填充量的精度，改善液晶显示装置的显示质量，并提高产品的生产效率。

本发明提供的液晶滴注控制系统，包括：

液晶滴注机；

相位分析装置，用于采集入射光透过所述液晶液滴形成的寻常光与非常光并计算寻常光与非常光的当前相位差，以及记录液晶液滴与所述入射光的接触时间；

控制装置，与所述相位分析装置和液晶滴注机信号连接，用于根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积；根据液晶液滴的体积确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注。

在本发明技术方案中，相位分析装置采集并计算寻常光与非常光的当前相位差，同时记录液晶液滴与所述入射光的接触时间；控制装置根据液晶液滴与所述入射光的接触时间、以及所述寻常光与非常光的当前相位差与液晶液滴的体积的对应关系得到液晶液滴的体积并确定液晶液滴的质量；当液晶液滴的质量超出液晶液滴的允许质量范围时，输出滴注停止信号，控制液晶滴注机停止滴注，因此，本发明提供的液晶滴注控制系统能够在线同时监测每滴液晶质量和液晶滴数，从而提高了液晶滴注控制系统填充液晶面板时液晶填充量的精度，有效地防止因液晶填充量异常导致的液晶显示装置的显示不良，从而改善了液晶显示装置的显示质量；并且，相较于现有技术，本实施例提供的液晶滴注系统不需要在完成数片液晶面板的填充之后停机离线，重新监测液晶液滴的质量，从而进一步提高了产品的生产效率。

优选的，所述入射光为线偏振光。

优选的，该液晶滴注控制系统还包括：

发光装置；

起偏器，设置于所述发光装置的出光侧，用于将所述发光装置发出的光线转化为透过液晶液滴的线偏振光。

优选的，该液晶滴注控制系统中，所述控制装置进一步用于记录液晶滴注机滴下的液晶液滴的数量以及液晶滴注机的当前滴注位置。