[发明专利]非接触式集成电路读取器、检测方法、检测电路及其系统

权利要求书

1.一种非接触式集成电路IC卡读取器的检测方法，所述方法包括：

在校准阶段中，计算在第一转变间隔期间的至少一个第一磁脉冲的第一转变时间，其中，所述至少一个第一磁脉冲在第一转变时间期间从第一电平至参考电平之间变化；

在检测阶段中，计算在第二转变间隔期间的第二磁脉冲的第二转变时间，其中，第二磁脉冲在第二转变时间期间从第二电平至参考电平之间变化；以及

基于第一转变时间和第二转变时间的比较来确定非接触式IC卡是否在非接触式IC卡读取器的通信范围之内，

其中，校准阶段对应于确定非接触式IC卡在非接触式IC卡读取器的通信覆盖范围之外的间隔。

2.如权利要求1所述的检测方法，其中，计算第一转变时间的步骤包括：

在所述第一磁脉冲的电平开始变化的第一转变间隔的第一开始点处触发计数操作；

在所述至少一个磁脉冲的电平达到参考电平的第一转变间隔的第一结束点处将第一计数值锁存为第一数字代码；以及

存储第一数字代码。

3.如权利要求2所述的检测方法，其中，计算第二转变时间的步骤包括：

在第二磁脉冲的电平开始变化的第二转变间隔的第二开始点处触发计数操作；以及

在第二磁脉冲的电平达到参考电平的第二转变时间间隔的第二结束点处将第二计数值锁存为第二数字代码。

4.如权利要求3所述的检测方法，其中，确定非接触式IC卡是否在非接触式IC卡读取器的通信范围之内的步骤包括：

将第一数字代码与第二数字代码进行比较；以及

基于第一数字代码和第二数字代码的比较来提供检测信号，其中，检测信号指示非接触式IC卡是否在非接触式IC卡读取器的通信范围之内。

5.如权利要求3所述的检测方法，其中，第一数字代码和第二数字代码分别对应于在第一转变间隔和第二转变间隔期间的计数脉冲的数量。

6.如权利要求5所述的检测方法，还包括：

调整计数脉冲的周期。

7.如权利要求1所述的检测方法，其中，基于非接触式IC卡是否在非接触式IC卡读取器的通信范围之内的确定,被确定非接触式IC卡读取器的操作模式。

8.如权利要求7所述的检测方法，还包括：

当非接触式IC卡被确定为在通信范围之内时，将非接触式IC卡读取器的操作模式从待机模式改变为激活模式。

9.如权利要求1所述的检测方法，其中：

所述至少一个第一磁脉冲包括多个第一磁脉冲，并且

计算第一转变时间的步骤包括：

计算所述多个第一磁脉冲中的每一个的从第一电平到参考电平的第一子转变时间；以及

对第一子转变时间进行平均，以提供与第一转变时间对应的平均值并基于第一子转变时间的平均值确定偏移，所述偏移对应于第一子转变时间的误差范围。

10.如权利要求9所述的检测方法，其中，确定非接触式IC卡是否在非接触式IC读取器的通信范围之内的步骤包括：

确定第二转变时间是否在偏移之内。

11.如权利要求1所述的检测方法，其中：

所述至少一个第一磁脉冲包括多个第一磁脉冲，并且

计算第一转变时间的步骤包括：

计算所述多个第一磁脉冲中的每一个的从第一正常电平到参考电平的第一子转变时间；以及

基于第一子转变时间的分布来提供第一转变时间的范围。

12.如权利要求11所述的检测方法，其中，确定非接触式IC卡是否在非接触式IC卡读取器的通信范围之内的步骤包括：确定第二转变时间是否在第一转变时间的范围之内。