[发明专利]一种无尘口罩过滤效率的检测评价方法

说明书

技术领域

本发明涉及无尘口罩过滤效率检测评价技术领域，特别是涉及一种无尘口罩过滤效率的检测评价方法。

背景技术

目前，随着制造技术的日臻完善，各国电子工业的产业结构有了巨大的变化和发展。为了满足市场需求，摄像头的更新速度不断加快，像素越来越高，制品向着精密化方向发展。因此，对无尘室（Clean Room）要求也越来越高，异物控制要求也越来越严格，无尘室所使用的各种消耗品，发尘量都要求有严格的控制，其中，高过滤效率的无尘口罩，在无尘室中的相对发尘量低，这样的无尘口罩是现阶段本领域技术人员一直想要使用的，但是，目前一直无法对无尘口罩的过滤效率进行检测。

因此，开发出一种技术，其可以方便、快速、准确地检测并评价无尘口罩的过滤效率，保证所使用的无尘口罩满足实际生产需要，进而保证所生产的制品的品质，具有重要的意义。

发明内容

本发明的目的在于解决上述技术问题而提供一种无尘口罩过滤效率的检测评价方法。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种无尘口罩过滤效率的检测评价方法，测试设备采用两台激光粒子计数器以及一台滚筒，所述滚筒具有可旋转的桶体，所述桶体具有异物排出口，所述异物排出口设有异物收集罩；在洁净环境中，采用如下步骤进行检测评价：

对所述滚筒的桶体内部进行清扫处理，使所述桶体内部保持洁净；

将1#激光粒子计数器的空气采集口通过洁净度连接管与所述滚筒的异物收集罩相连接，将2#激光粒子计数器放置于所述异物收集罩的罩口；

将污染源放入所述滚筒的桶体内部；

将待测试无尘口罩样品展开后绑定在所述滚筒的异物收集罩的罩口；

嫁动所述2#激光粒子计数器多次，测定所述异物收集罩的罩口外环境的洁净度，记录平均值，标记为N₀；

嫁动所述滚筒以及所述1#、2#激光粒子计数器多次，记录平均值，分别标记为N₁、N₂；

采用公式(N₂-N₀)/N₁计算所述无尘口罩过滤效率。

所述桶体内部保持洁净是指用激光粒子计数器测试所述桶体内部的洁净度为零。

所述洁净环境是指Class100以下洁净的空间中。

所述滚筒、1#、2#激光粒子计数器在测试过程中的嫁动次数相同。

所述滚筒、1#、2#激光粒子计数器在测试过程中的嫁动次数至少为10次。

所述污染源为纸。

本发明通过在洁净环境中采用上述装置按上述方法对无尘口罩的过滤效率进行检测，不但大大提高了检测效率，而且保证了检测的效果达到了要求的标准，保证有效地保证了所使用的无尘口罩能满足实际生产需要，进而保证所生产的制品的品质，具有重在生产实践意义。

附图说明

图1所示为本发明实施例提供的滚筒的结构示意图；

图2所示为本发明实施例提供的滚筒的异物收集罩的侧视示意图。

具体实施方式

下面，结合实例对本发明的实质性特点和优势作进一步的说明，但本发明并不局限于所列的实施例。

一种无尘口罩过滤效率的检测评价方法，测试设备采用两台激光粒子计数器以及一台滚筒，所述滚筒具有可旋转的桶体，所述桶体具有异物排出口，所述异物排出口设有异物收集罩；在洁净环境中，采用如下步骤进行检测评价：

对所述滚筒的桶体内部进行清扫处理，使所述桶体内部保持洁净；

将1#激光粒子计数器的空气采集口通过洁净度连接管与所述滚筒的异物收集罩相连接，将2#激光粒子计数器放置于所述异物收集罩的罩口；

将污染源放入所述滚筒的桶体内部；

将待测试无尘口罩样品1个，展开后绑定在所述滚筒的异物收集罩的罩口；

嫁动所述2#激光粒子计数器多次，测定所述异物收集罩的罩口外环境的洁净度，记录洁净度平均值(如记录0.5μm以上微粒的数量值)，标记为N₀；

嫁动所述滚筒以及所述1#、2#激光粒子计数器多次，记录洁净度平均值(如记录0.5μm以上微粒的数量值)，分别标记为N₁、N₂；

采用公式(N₂-N₀)/N₁计算所述无尘口罩过滤效率。