[发明专利]一种基于超像素描述的月面岩石检测方法有效
申请号: | 201410101324.4 | 申请日: | 2014-03-18 |
公开(公告)号: | CN103871062A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 邢琰;刘祥;刘云;滕宝毅;林颖;龚小谨;毛晓艳;刘济林 | 申请(专利权)人: | 北京控制工程研究所 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 像素 描述 岩石 检测 方法 | ||
1.一种基于超像素描述的月面岩石检测方法,其特征在于实现步骤如下:
(1)对月面拍摄的图像进行各向异性平滑,以平滑月壤区域的纹理但同时能够很好地保留月壤与岩石的边界;
(2)对平滑后的图像进行过分割,得到超像素;
(3)基于超像素,提取天空区域;
(4)在去除天空区域的超像素中,提取月面岩石区域。
2.根据权利要求1所述的基于超像素描述的月面岩石检测方法,其特征在于:所述步骤(1)对图像进行各向异性平滑的具体实现为:
(11)在尺度空间中,将月面图像的平滑表示为:
L(x,y,σn)=G(x,y,σn)*L(x,y,σn-1)
L(x,y,σ0)=I(x,y)
其中,I(x,y)是原始图像,L(x,y,σn)为尺度为σn的图像,尺度σn控制了影响中心像素的邻域的尺寸,G(x,y,σn)为高斯卷积核;L(x,y,σn-1)为尺度为σn-1的图像;
(12)对高斯平滑方程求微分,得到:
将L(x,y,σn)缩写为同样地,将G(x,y,σn)缩写为。为求偏导符号;
(13)对于平滑后的图像,采用二阶矩矩阵来度量区域的线性性:
式(3)中,σD为积分尺度,Lx、Ly分别为平滑尺度σn上的水平和垂直方向的一阶差分;一个正定的矩阵M的奇异值分解表征了它的结构:
式(4)中,λ1≥λ2≥0为两个特征值,U,V为特征向量组成的矩阵;
引入度量范式q1量化地度量区域的线性性:
其中,detM为矩阵M的行列式,traceM为矩阵M的秩;
(14)将待滤波位置的图像行坐标r作为深度的度量参数:
得到新的各项异性平滑方程为:
其中,即为各项异性平滑后的图像,为图像求梯度后的模,其它符号如前所述。
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