[发明专利]一种X射线数字平板成像检测技术无效
申请号: | 201410102370.6 | 申请日: | 2014-03-19 |
公开(公告)号: | CN103837555A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 王建华 | 申请(专利权)人: | 烟台华科检测设备有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
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地址: | 264117 山东省烟*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 数字 平板 成像 检测 技术 | ||
技术领域
本发明涉及X射线检测设备技术领域,尤其是一种X射线数字平板成像检测技术。
背景技术
目前,数字化技术改变了人们的生活,人们以越来越高的效率收集、保存、分析和使用信息。上世纪70年代,美国便对X射线数字成像进行了广泛和深入的研究,但那时尚无法有效地设计和生产出可靠经济的数字X射线成像系统;80年代中期,射线工作者和医学工作者终于等到了一种技术,计算机射线成像(CR)中的成像板(IP板),这种体积小,轻便,便于携带的成像装置,开始淘汰了X射线照相所用的胶片、化学试剂和射线透视成像中笨重的影像增强感;90年代后期,在硅谷瓦里安的金斯顿技术中心,第一个商业用的非晶硅平板数字X射线探测器诞生了,开始永远的改变X射线成像技术。但是,现有X射线检测设备技术中依然存在以下缺点,数字化设备太大,不便于携带,容易损坏,且图像多方位采集不易,不能够长时间实时传输,显像模糊不清等。
发明内容
为了解决现有X射线检测设备技术的不足,本发明提供了一种X射线数字平板成像检测技术, X射线数字平板成像检测技术首先体现在数字平板成像,即X射线成像数字化设备越来越小,越来越耐用,当图像是数字时就便于携带,图像容易在多方位同时采集,并且可以长距离实时传输,图像清晰。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是,一种X射线数字平板成像检测技术,整套检测系统主要由平板探测器,计算机及软件组成。当X射线穿过被检测物体到达平板探测器时,平板探测器将X射线不可见光信息转换成数字信号,然后由计算机软件处理成数字图像显示;
所述平板探测器的中间是一个非晶硅TFT/光电二极管排列,与这个阵列紧密结合在一起的是X射线闪烁体;
所述的平板探测器由一片附有薄层非晶硅的玻璃组成;
所述的闪烁体是由碘化铯组成;碘化铯是一种X射线吸收体,能把X射线转化成可见光光子,然后进入光电二极管阵列;
碘化铯和非晶硅这两种材料的结合产生最高的量子检测效率;
量子检测效率是衡量成像器性能的尺度;
非晶硅以极小的尺寸刻印成数百万晶体管,排列成高度有序的阵列,每个薄膜晶体管附着在高吸收性的光电二极管上,从而形成各个像素;
光子撞击光电二极管,转化成电荷的两个载体,由于产生的电荷载体会随着进入的光子的强度变化而变化,电子图像产生了,通过计算机迅速的读取和解释所产生数字图像;
所述平板探测器中的平板X射线成像器是以大尺寸的以非晶硅薄膜晶体管阵列形式的固态集成电路为基础;
平板成像帧速率在每秒1-2帧,抓图时间在8秒-12秒。
X射线数字平板成像检测技术首先体现在数字平板成像,即X射线成像数字化设备越来越小,越来越耐用,当图像是数字时就便于携带,图像可以很容易的在多方位同时采集,并且可以长距离实时传输;平板X射线成像器是以固态集成电路技术为基础,由于X射线不容易聚焦,成像器就需要与成像物体的尺寸相当,这就需要尺寸很大的集成电路,大面积的集成电路是以非晶硅薄膜晶体管(TFT)阵列的形式出现;平板成像最通用的闪烁体是硫氧化钆和碘化铯。
数字化X射线成像过程是,X射线管发射的X射线光子穿过目标物体,没有被物体吸收的X射线光子撞击一层闪烁体材料,闪烁体材料将X射线光子转化成可见光光子,这些可见光光子可以激活非晶硅的像素,这些激活的像素产生电子数据,它可以被计算机转化成高质量的目标物体图像,目标物体图像在计算机显示器显示。
本发明的有益效果是,一种X射线数字平板成像检测技术,所产生的数字图像,和传统的模拟图像、胶片相比,更易于存档,成本更低廉;数字图像、视频序列甚至立体数据流很容易连接到客户端,平板成像的质量无论是测试,还是实际应用,效果都良好,成像快捷,更利于检测自动化,可大大提高检测效率;平板成像数字化的检测结果,经过计算机管理更安全方便,并且平板成像的剂量很低。
具体实施方式
一种X射线数字平板成像检测技术,整套检测系统主要由平板探测器,计算机及软件组成,当X射线穿过被检测物体到达平板探测器时,平板探测器将X射线不可见光信息转换成数字信号,然后由计算机软件处理成数字图像显示。
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