[发明专利]产品高度双缝检测装置

说明书

技术领域

本发明属于检测装置技术领域，尤其涉及一种产品高度双缝检测装置。

背景技术

目前，连接器在3C产品上的应用越来越广泛，同时对连接器的产品，在价格要低的情况下，质量要求越来越高。

如图1所示，一种连接器包括连接器塑壳100和连接器端子200，连接器塑壳100通过连接器端子200与PCB电路板连接，连接器端子200高度尺寸就成为连接器产品生产中必要检测的项目。现在常用的方法是通过CCD检测的方式实现，但是CCD检测的成本高，仅进行高度检测不能充分发挥CCD检测仪的作用，造成成本的浪费。当然，在其它产品的高度检测过程中同样存在上述问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种产品高度双缝检测装置，以解决现有的采用CCD检测仪检测产品的高度造成成本浪费的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：产品高度双缝检测装置，包括支架，所述支架上安装有由升降驱动装置驱动的检测定块，所述检测定块上设有上下平行设置的上通光缝隙和下通光缝隙，所述上通光缝隙与下通光缝隙对应位置处分别设置有上对射型光纤传感器和下对射型光线传感器，所述检测定块上竖向滑动安装有与待测产品位置相对应的检测动块，所述检测动块的下端伸出所述检测定块，所述检测动块连接有使自身与对应的待测产品相抵靠的弹性装置，所述检测动块上设有上下平行设置的上检测缝隙和下检测缝隙，所述上通光缝隙、下通光缝隙、上检测缝隙和下检测缝隙的竖向宽度均为待测产品的高度公差值；当所述检测定块在所述升降驱动装置驱动下到达设定位置时，如果待测产品高度为下限值，则所述下通光缝隙的下边缘与所述下检测缝隙的上边缘齐平，所述上通光缝隙位于所述上检测缝隙的上方，且所述上通光缝隙的下边缘与所述上检测缝隙的上边缘之间的竖向高度差为待测产品的高度公差值。

作为一种改进，所述支架上设有用于限定所述检测定块的下行极限位置的限位柱。

作为进一步的改进，所述支架上设有一固定块，所述限位柱与固定块之间螺纹连接。

作为进一步的改进，所述升降驱动装置包括固定安装在所述支架上的导轨和由气缸驱动的滑台，所述滑台滑动安装在所述导轨上，所述检测定块通过安装板固定安装在所述滑台上。

作为进一步的改进，所述安装板上设有光纤传感器固定座，所述上对射型光纤传感器和下对射型光线传感器通过所述光纤传感器固定座固定安装在所述安装板上。

作为进一步的改进，所述弹性装置包括压缩弹簧，所述安装板上位于所述检测定块的上方固定安装有弹簧固定座，所述压缩弹簧设置在所述弹簧固定座与检测动块之间。

采用了上述技术方案后，本发明的有益效果是：由于产品高度双缝检测装置设计了由升降驱动装置驱动的检测定块、上对射型光纤传感器、下对射型光线传感器和检测动块，所述检测定块上设有上通光缝隙和下通光缝隙，所述检测动块上设有上检测缝隙和下检测缝隙，所述检测动块的下端伸出所述检测定块，所述检测动块连接有使自身与对应的待测产品相抵靠的弹性装置，因而在检测时，首先通过治具对待测产品定位，然后升降驱动装置带动检测定块下移到设定位置，从而使检测动块接触待测产品，待测产品上顶检测动块，使检测动块在检测定块上滑动，上下两个对射型光纤传感器开启。

又由于装置设置为：在待测产品高度为下限值时，所述下通光缝隙的下边缘与所述下检测缝隙的上边缘齐平，所述上通光缝隙位于所述上检测缝隙的上方，且所述上通光缝隙的下边缘与所述上检测缝隙的上边缘之间的竖向高度差为待测产品的高度公差值，因此，当待测产品高度位于合格范围之内时，下通光缝隙与下检测缝隙会有叠合部分，下对射型光纤传感器会输出通光量大于零的信号，而上通光缝隙与上检测缝隙没有叠合，上对射型光纤传感器会发出通光量为零的信号，此时判断产品合格；当待测产品高度低于下限值时，上对射型光纤传感器和下对射型光纤传感器均发出通光量为零的信号，此时判断产品不合格；当待测产品高度高于上限值时，上对射型光纤传感器会发出通光量大于零的信号，此时判断产品不合格。本发明利用市场上常见的对射型光纤传感器实现了待测产品高度的有效检测，方法新颖、结构简单、检测准确，有效降低设备生产成本。

由于所述支架上设有限位柱，从而可以方便的限定所述检测定块的下行极限位置，确保在每次检测时，检测定块和检测动块位置的准确，结构简单。

由于所述支架上设有一固定块，所述限位柱与固定块之间螺纹连接，因而可以通过螺纹方便的调节限位柱在固定块上的位置，便于调节检测定块和检测动块的竖向位置。