[发明专利]射频非对称低阻抗测试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及射频微波测量技术领域，特别涉及一种射频非对称低阻抗测试夹具。

背景技术

目前，通常使用50Ω测试夹具测试大栅宽、高功率的PA(Power Amplifier,功率放大器)，50Ω测试夹具为对称型测试夹具，对称型测试夹具是指输入输出端变换成相等的阻抗值，因为被测试设备的输入、输出阻抗不相等，所以现有的50Ω测试夹具变换后的输入阻抗与输出阻抗不能够完全匹配被测试设备的测试，输入阻抗失配导致测试大功率容易引起低频振荡，烧毁器件，输出阻抗失配导致测量不准确。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种能够与待测试器件的输入、输出阻抗相匹配，防止烧毁待测试器件，保证待测试器件微波性能测量准确度的射频非对称低阻抗测试夹具。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种射频非对称低阻抗测试夹具，包括：PCB板及底板；所述PCB板的左侧设置有第一阻抗变换单元，所述PCB板的右侧设置有第二阻抗变换单元；所述第一阻抗变换单元和所述第二阻抗变换单元分别由一组渐变的微带线组成，每组所述微带线中的每条微带线的宽度相同，每组所述微带线的长度在排列方向上按照从小到大，再从大到小的规律变化；所述PCB板上还设置有扇形电容、电源端和接地端，所述扇形电容的一个极板与所述第二阻抗变换单元及所述电源端连接，所述扇形电容的另一个极板接地，所述接地端用于接地；所述PCB板连接在所述底板的上端。

进一步地，所述PCB板上还设置有散热孔。

进一步地，还包括螺钉；所述PCB板通过所述螺钉设置在所述底板上。

进一步地，所述底板上设置有散热孔。

进一步地，每组所述微带线中包含100根所述微带线。

本发明提供的射频非对称低阻抗测试夹具，通过第一阻抗变换单元和第二阻抗变换单元分别变换得到与待测试器件输入、输出相匹配的阻抗，可以有效的提高待测晶体管的阻抗实部，解决振荡的源头问题，防止烧毁待测试器件，保证待测试器件微波测量准确度。

附图说明

图1为本发明实施例提供的PCB板结构示意图；

图2为本发明实施例提供的底板结构示意图。

具体实施方式

参见图1和图2，本发明实施例提供的一种射频非对称低阻抗测试夹具，包括：PCB板7、底板9及螺钉。PCB板7的左侧设置有第一阻抗变换单元1，PCB板7的右侧设置有第二阻抗变换单元2，第一阻抗变换单元1和第二阻抗变换单元2分别由一组渐变的微带线（如Klopfenstein渐变微带线）组成，每组微带线由100条微带线组成，每组微带线中的每条微带线的宽度相同，每组微带线的长度在排列方向上按照从小到大，再从大到小的规律变化。PCB板7上还设置有扇形电容3、电源端4和接地端5，扇形电容3的一个极板与第二阻抗变换单元2及电源端4连接，扇形电容3的另一个极板接地，接地端5用于接地，且与PCB板7上需要接地的端孔连接；PCB板7通过螺钉连接在底板9的上端，底板9采用铜板，且底板9的两端可以根据实际需要设置电气接头，用于和外部的电器元件连接。本发明实施例中，PCB板7上还设置有散热孔6。底板9上设置有散热孔。

由于低阻抗测试夹具需要测试大栅宽LDMOS器件不同频点的S参数来评估器件频率特性，因此这个阻抗变换预匹配PCB板7必须是宽带的，采用渐变微带线能够很好的实现。同时结合被测试器件阻抗等问题，本发明中，PCB板7采用100节Klopfenstein渐变微带线来实现，输入端阻抗从50欧姆变换到10欧姆，输出端阻抗从50欧姆变换到3欧姆。扇形电容3起到隔离高频信号以及滤除电源纹波作用，待测试器件的两个管脚分别连接在第一阻抗变换单元和第二阻抗变换单元的头部（即两组微带线较为密集的一端）。本发明实施例提供的射频非对称低阻抗测试夹具的带宽涵盖P波段、L波段、S波段，测试适用范围很广，并且可以测试出待测试器件不稳定区域。本发明实施例提供的射频非对称低阻抗测试夹具，可以用于微波射频功率管的器件性能测试，但它的使用可能会引入测试误差，利用矢量网络分析仪测试得到的是包括低阻抗测试夹具和待测管整体的S参数，把射频非对称低阻抗测试夹具的误差影响去除掉就可以得到待测管准确的S参数。因此对低阻抗测试夹具的校准是测试的理论前提，本实施例可采用TRL算法可以实现对低阻抗测试夹具的准确校准。