[发明专利]用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路、系统及方法

权利要求书

1.一种用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路，其特征在于，包括：

信号发生器，用于产生测试信号；

驱动放大器，用于将所述信号发生器输出的测试信号放大输出；

辐射天线，用于将所述驱动放大器放大输出的所述测试信号辐射出去。

2.根据权利要求1所述的用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路，其特征在于，所述辐射天线为超高频天线。

3.根据权利要求1所述的用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路，其特征在于，所述信号发生器为宽带信号发生器。

4.根据权利要求1所述的用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路，其特征在于，所述信号发生器、驱动放大器和辐射天线集成在同一块板子上。

5.一种用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试系统，包括位于暗室内的接收天线和位于暗室外的信号分析器，所述接收天线与信号分析器连接，其特征在于，还包括权利要求1-4所述的测试电路，所述测试电路位于暗室内且可安装在光模块中；

其中，所述接收天线用于接收所述光模块中的测试电路中的辐射天线辐射出的信号，并将该信号输出到所述信号分析器中；

所述信号分析器用于对所述信号进行频谱分析，根据该信号的强度变化值与预设值的比较判断光模块外壳的屏蔽性能是否符合要求。

6.根据权利要求5所述的用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试系统，其特征在于，所述信号分析器为频谱仪。

7.根据权利要求5所述的用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试系统，其特征在于，所述暗室为IEC EMC测试标准所定义的电波暗室。

8.一种利用权利要求5-7所述测试系统测试光模块外壳屏蔽性能的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

A、打开光模块外壳，将所述测试电路与所述光模块内的主板电路电连接；

B、将连接好测试电路的光模块放入暗室内一端，给光模块供电使测试电路工作辐射出测试信号，暗室内另一端的接收天线接收所述测试信号，所述信号分析器对该测试信号进行分析，记录第一信号强度值；

C、将所述外壳安装在光模块上，测试电路位于外壳内，再将连接好所述测试电路的光模块放入暗室内一端，给光模块供电使测试电路工作辐射出测试信号，暗室内另一端的接收天线接收所述测试信号，所述信号分析器对该测试信号进行分析，记录第二信号强度值；

D、计算所述第一信号强度值与第二信号强度值的差值，若所述差值大于等于预设值，则所述光模块外壳屏蔽性能符合要求，若所述差值小于预设值，则所述光模块外壳屏蔽性能不符合要求。