[发明专利]一种互补金属氧化物半导体摄像机及其补光方法有效
申请号: | 201410105788.2 | 申请日: | 2014-03-20 |
公开(公告)号: | CN104702850B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 柯常志;陈树毅;葛路烨 | 申请(专利权)人: | 杭州海康威视数字技术股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235;G03B15/05 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人: | 谢安昆,宋志强 |
地址: | 310052 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 互补 金属 氧化物 半导体 摄像机 及其 方法 | ||
1.一种互补金属氧化物半导体CMOS摄像机的补光方法,所述CMOS摄像机为采用卷帘快门曝光方式的CMOS摄像机,其特征在于,包括:
获取帧间隔时间以及每行像素的曝光时间;
根据获取到的信息确定出频闪周期;
按照所述频闪周期以及预先设定的占空比,利用补光灯为每帧图像进行补光,所述占空比大于0且小于1;
所述帧间隔时间为:F*Tpixclk;所述每行像素的曝光时间为:S*Tpixclk;
所述F和所述S均为正整数,且F>S,所述Tpixclk表示输出一个像素点的时钟周期;
所述根据获取到的信息确定出频闪周期包括:
当所述F和所述S之间非互质时,求取所述F和所述S之间的最大公约数T1;
从所述T1的各因数中选定一个因数,计算所选定的因数与所述Tpixclk的乘积,将计算结果作为所述频闪周期;
当所述F和所述S之间互质时,对所述S的取值进行微调,使得微调后的S和所述F之间非互质,并获取所述F和微调后的S之间的最大公约数T2;
从所述T2的各因数中选定一个因数,计算所选定的因数与所述Tpixclk的乘积,将计算结果作为所述频闪周期;或
当所述F和所述S之间互质时,从位于F-B到F之间的各正整数中选定一个与所述S之间非互质的正整数F1,所述B为正整数,且B<F,B*Tpixclk为每帧图像中的帧消隐时间,并获取所述F1和所述S之间的最大公约数T3;
从所述T3的各因数中选定一个因数,计算所选定的因数与所述Tpixclk的乘积,将计算结果作为所述频闪周期。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述按照所述频闪周期以及预先设定的占空比,利用补光灯为每帧图像进行补光包括:
针对每帧图像,从该帧图像的第一行曝光开始到F1*Tpixclk的时段内,按照所述频闪周期以及预先设定的占空比,利用补光灯为该帧图像进行补光,在剩余时段内,关闭所述补光灯。
3.一种互补金属氧化物半导体CMOS摄像机,所述CMOS摄像机为采用卷帘快门曝光方式的CMOS摄像机,其特征在于,包括:补光控制模块和补光灯;
所述补光控制模块,用于获取帧间隔时间以及每行像素的曝光时间;根据获取到的信息确定出频闪周期;按照所述频闪周期以及预先设定的占空比,控制所述补光灯为每帧图像进行补光,所述占空比大于0且小于1;
所述帧间隔时间为:F*Tpixclk;所述每行像素的曝光时间为:S*Tpixclk;
所述F和所述S均为正整数,且F>S,所述Tpixclk表示输出一个像素点的时钟周期;
当所述F和所述S之间非互质时,所述补光控制模块求取所述F和所述S之间的最大公约数T1,并从所述T1的各因数中选定一个因数,计算所选定的因数与所述Tpixclk的乘积,将计算结果作为所述频闪周期;
所述补光控制模块进一步用于,当所述F和所述S之间互质时,对所述S的取值进行微调,使得微调后的S和所述F之间非互质,并获取所述F和微调后的S之间的最大公约数T2;从所述T2的各因数中选定一个因数,计算所选定的因数与所述Tpixclk的乘积,将计算结果作为所述频闪周期;或
所述补光控制模块进一步用于,当所述F和所述S之间互质时,从位于F-B到F之间的各正整数中选定一个与所述S之间非互质的正整数F1,所述B为正整数,且B<F,B*Tpixclk为每帧图像中的帧消隐时间,并获取所述F1和所述S之间的最大公约数T3;从所述T3的各因数中选定一个因数,计算所选定的因数与所述Tpixclk的乘积,将计算结果作为所述频闪周期。
4.根据权利要求3所述的CMOS摄像机,其特征在于,
所述补光控制模块进一步用于,针对每帧图像,从该帧图像的第一行曝光开始到F1*Tpixclk的时段内,按照所述频闪周期以及预先设定的占空比,控制所述补光灯为该帧图像进行补光,在剩余时段内,控制所述补光灯关闭。
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