[发明专利]一种分体式现场金相显微镜

说明书

技术领域

本发明涉及一种分体式现场金相显微镜。

背景技术

现场金相显微镜是对不能切割取样的重要部件进行微观组织分析的小型精密光学结构的光学仪器。使用时，在完成对工件打磨、抛光、侵蚀步骤后，直接吸附在工件上进行组织观察。

现有的现场金相显微镜，显微镜的显微镜基座和镜体均为一体的，由于现场的特殊工况，观察现场金相磨面时，观察位置的选择主要靠操作人员选定，

显微镜放置后，被检测面与镜体内的光学系统很难做到垂直，为了获得相对清晰的图片，操作人员往往需要花费大量的时间来调整显微镜基座的位置，及时如此，可清晰观察和采集的区域非常小，不能满足整个视野中的区域都是清晰的，图片成像质量非常降低。对后期金相组织的辨别、组织球化级别的判定和晶粒度测量等带来很大的不便和困难，易造成误判，甚至有的项目如晶粒度等无法进行。

现有的现场金相显微镜的底座中，磁棒一般固定在底座上，对特殊部位，如图1中a、b、c所示的弯管焊缝、大小头焊缝、和弯管外弧焊缝，只能做到局部接触吸附，则金相显微镜很难牢固固定，图片拍照或采集过程中，显微镜会发生一定的偏移和抖动，严重影响金相显微镜的成像质量。

对于被检测部件尺寸小于传统的现场金相显微镜底座宽度时，只能借助辅助装置，否则无法进行图片拍照或采集。当被检测部件为非磁性材料时，现场金相显微镜无法固定，只能靠操作人员来稳定显微镜，无法保证清晰的成像质量，工效也大大降低。

发明内容

为解决以上技术上的不足，本发明提供了一种分体式现场金相显微镜，可快速、有效地使显微镜镜体的光学系统与被检测面垂直，从而提高了工效和成像质量。

本发明是通过以下措施实现的：

本发明的一种分体式现场金相显微镜，包括独立的显微镜基座和带有光学

系统部件的镜体，所述显微镜基座与镜体之间可拆卸连接有转向调整支架，所述转向调整支架包括穿有夹紧调节螺栓的两个长条形夹板，两个夹板之间的左右两端分别夹有均可转动的左球体和右球体；所述左球体左侧连接有调整杆，所述调整杆上穿有基座固定件，所述基座固定件与显微镜基座连接；所述右球体右侧连接有镜体紧固套筒，镜体紧固套筒连接镜体，所述显微镜基座底部设置有磁性底座。

上述基座固定件为圆柱体，基座固定件上部开有径向的通孔，所述调整杆穿过通孔，并且基座固定件顶部轴向设置有末端可延伸入通孔内的紧固螺栓Ⅰ。

上述镜体紧固套筒内侧设置有橡胶垫圈，镜体紧固套筒的侧壁上径向穿有紧固螺栓Ⅱ。

上述显微镜基座顶部设置有横向的支架紧固套筒，并且支架紧固套筒与镜体紧固套筒直径相同，所述基座固定件下部穿入支架紧固套筒内，所述支架紧固套筒侧壁上设置有径向的紧固螺栓Ⅲ。

上述显微镜基座上设置有均带调整手轮的X、Y、Z向调整机构,所述支架紧固套筒连接有齿轮Ⅰ，显微镜基座横向贯穿有可轴向转动的转动轴，转动轴一端设置有与齿轮Ⅰ相啮合的齿轮Ⅱ，另一端设置有调整手轮。

上述显微镜基座底部左右设置有两个磁性底座，每个磁性底座包括前后两个底座，两底座之间穿有可轴向转动的长方形磁棒，磁棒上设置有限制磁棒转动角度的限位块，所述磁棒连接有磁性开关手柄。

上述两个夹板内侧表面设置有与球体相配合的球面凹槽，所述球面凹槽内设置有防滑垫片，左球体和右球体表面均设置有防滑纹。

上述调整杆末端设置有限位挡圈。

上述两个夹板中部左右并排穿有两个夹紧调节螺栓。

本发明的有益效果是：1、打破传统现场金相显微镜底座与镜体一体化设计，采用分体式结构，方便调整镜体位置和角度，可快速、有效使得显微镜镜体的光学系统与被检测面垂直，以保证整个视场的金相组织都是清晰的，获得优质的成像质量。2、显微镜基座底座能够牢固吸附，提高特殊部位及无磁性部件金相组织的成像质量。3、本装置可提高现场金相检验分析的可靠型，降低干扰因素，提高工作效率和成像质量。

附图说明

图1 为被检测部位的示意图，其中a、b、c分别表示弯管焊缝、大小头焊缝和弯管外弧焊缝。

图2为本发明的使用状态结构示意图。

图3为本发明的转向调整支架主视结构示意图。

图4为本发明的转向调整支架俯视结构示意图。

图5为本发明显微镜基座的结构示意图。

图6为本发明磁性底座的结构示意图。