[发明专利]一种防止可靠性测试时发生共振的结构无效
| 申请号： | 201410106565.8 | 申请日： | 2014-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN103884873A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 王炯;周柯;陈雷刚 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 防止 可靠性 测试 发生 共振 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种防止可靠性测试时发生共振的结构，其特征在于，包括测试机台、测试器件和外加电容，所述测试器件和外加电容设于所述测试机台上，所述测试器件上设有漏极和衬底，所述测试器件的漏极和衬底之间并联所述外加电容，所述并联的测试器件和外加电容的外加频率不等于所述测试机台的固有频率。
2.如权利要求1所述的防止可靠性测试时发生共振的结构，其特征在于，所述外加电容的电容值为0.05～0.12皮法。
3.如权利要求2所述的防止可靠性测试时发生共振的结构，其特征在于，所述外加电容的电容值为0.1皮法。
4.如权利要求1所述的防止可靠性测试时发生共振的结构，其特征在于，所述外加电容为耐高温电容。
5.如权利要求1所述的防止可靠性测试时发生共振的结构，其特征在于，所述测试机台为封装级别的测试机台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司，未经上海华力微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410106565.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
