[发明专利]空间目标可见光散射特性分析模型校验方法

权利要求书

1. 一种空间目标可见光散射特性分析模型校验方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，试验目标先验信息与探测器参数获取；

步骤2，根据试验目标的几何参数建立试验目标的几何建模，根据试验目标表面热控材料参数建立表面材料模型；

步骤3，空间目标可见光散射特性建模与分析；

步骤4，试验目标缩比模型研制；

步骤5，试验目标缩比模型可见光散射特性测试；

步骤6，试验目标可见光散射特性分析与测试结果比对与分析；

步骤7，空间目标可见光散射特性分析模型校验。

2. 如权利要求1所述的空间目标可见光散射特性分析模型校验方法，其特征在于，步骤1中先验信息包括几何参数和表面材料参数，获取探测器的成像波段、成像视场、成像焦距等参数。

3. 如权利要求1所述的空间目标可见光散射特性分析模型校验方法，其特征在于，步骤3中根据试验目标轨道参数、姿态参数和探测器的探测方位和探测波段，对空间目标可见光散射特性进行建模与分析，获得关注位置和方位的光谱照度。

4. 如权利要求1所述的空间目标可见光散射特性分析模型校验方法，其特征在于，步骤4中缩比模型比例视可见光散射特性测试系统的太阳模拟器和可测距离而定，以模拟的太阳平行光完全把目标覆盖为宜。

5. 如权利要求1所述的空间目标可见光散射特性分析模型校验方法，其特征在于，步骤5中选取一系列特定光照条件、特定观测方位对试验目标缩比模型的可见光散射特性进行测试。

6. 如权利要求1所述的空间目标可见光散射特性分析模型校验方法，其特征在于，步骤7包括：利用测试结果对空间目标可见光散射特性分析模型进行校验，修正表面材料模型中的待定参数，重新对试验目标的可见光散射特性进行分析，获得近似于测试结果的分析结果。