[发明专利]一种定量监测DNAPL运移过程与饱和度的方法有效
申请号: | 201410108042.7 | 申请日: | 2014-03-21 |
公开(公告)号: | CN103852425B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 叶淑君;吴吉春;郭健 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N27/04 |
代理公司: | 江苏圣典律师事务所32237 | 代理人: | 贺翔 |
地址: | 210000 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定量 监测 dnapl 过程 饱和度 方法 | ||
1.一种定量监测DNAPL运移过程与饱和度的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)利用光透系统中CCD相机拍照记录砂箱内饱水时的光强值Is以及DNAPL入渗过程中多孔介质内的光强值I,
(2)采用高密度电阻率法测量砂箱内饱水以及DNAPL入渗过程中的电阻值;
(3)采用“水-DNAPL”两相中DNAPL饱和度的计算公式对光透法的数据进行处理,水/NAPL二相流中DNAPL饱和度计算公式为:
其中,So为DNAPL相饱和度;Ioil为砂箱完全饱DNAPL时CCD相机记录的光强值;Is为饱水时光强值;I为CCD相机实时拍摄记录的光强值。
(4)将电阻值换算为电阻率,电阻率计算公式如下:
上式中:R为测得的电阻,ρ为电阻率值,为电极装置系数,为电流电极a的第(i,j,k)个镜像电流源距离电位电极b之间的距离。
(5)根据光透法计算出的二维砂箱内孔隙介质不同时刻的DNAPL饱和度空间分布,以及应用高密度电阻率法测量出的砂箱内不同位置、不同时刻的电阻值,选出某一时刻部分观测点处电阻值与水的饱和度值拟合出Archie公式中的参数β值;
(6)用高密度电阻率法确定DNAPL饱和度过程中,水的饱和度Sw可由Archie公式求得,该公式为:
Sw=(ρ0/ρt)1/β
式中:β为与砂样特性如颗粒粒径、密度等相关的参数;ρ0为孔隙介质完全饱水时的电阻率;ρt为t时刻介质中同时含有水与DNAPL相时的电阻率;
(7)利用以上公式获得的不同时刻DNAPL饱和度空间分布图再估算不同时刻注入砂箱内的DNAPL总量,计算公式如下:
式中:V为估算的介质中DNAPL总体积,单位ml;So(i,j)为空间某一单元(i,j)处的DNAPL饱和度;A和H分别为单元面积与厚度;φ为孔隙介质的孔隙度。
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