[发明专利]基于联合去噪和伪哈密顿量的Duffing振子弱信号检测方法有效
申请号: | 201410110813.6 | 申请日: | 2014-03-24 |
公开(公告)号: | CN103884421A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 张刚;王颖;张天骐;李波;王源;贺利芳 | 申请(专利权)人: | 重庆邮电大学 |
主分类号: | G01H17/00 | 分类号: | G01H17/00 |
代理公司: | 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 | 代理人: | 刘小红 |
地址: | 400065 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 联合 哈密顿量 duffing 振子弱 信号 检测 方法 | ||
1.一种基于联合去噪和伪哈密顿量的Duffing振子弱信号检测方法,其特征在于包括以下步骤:
101、对待测高频工程信号经过二次采样,即将采样频率为fs的高频工程信号信号变换为二次采样频率为fs'的低频参数信号,其中低频参数信号x(t)=s(t)+n(t),s(t)是周期信号,n(t)是均值为零的高斯白噪声;
102、将步骤101中得到的低频参数信号x(t)=s(t)+n(t)通过自相关器得到输出信号的函数表达式为:
103、对步骤102中得到的自相关信号x(t)'进行小波阈值变换,去除自相关信号x(t)'中剩余的噪声得到信号x(t)'';
104、将步骤103中去噪后得到的信号x(t)''输入Duffing振子检测系统,设置Duffing振子检测系统的初始状态参数,包括Duffing振子检测系统驱动力的临界阈值N1、Duffing振子阻尼比及系统初始状态位置;
105、计算步骤104中输入Duffing振子检测系统的平均伪哈密顿量APH,用T表示其大小,其中,N为动力系统的时间序列长度,i为系统的第i个状态,xi,yi表示Duffing振子在系统的第i个状态下的相图位置,设定系统伪哈密顿量门限阈值为μ,当T≥μ时,则判断系统处于大周期状态,且有信号存在;若T<μ时,则判断信号处于混沌状态,且没有信号存在。
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