[发明专利]多层导电涂层厚度的涡流检测方法和装置

权利要求书

1.一种多层导电涂层厚度的涡流检测方法；其特征在于：包括如下步骤：

第一步、测出两层导电涂层的被测件的检测信号增幅；

第二步、改变上下涂层厚度，测出随厚度变化后的检测信号增幅；

第三步、根据检测信号增幅，拟合出上下层磁场强度与厚度变化的直线关系，确定上层直线的斜率和截距与底层厚度的关系，用两组数据代入实测点的数值便可求解出底层厚度和总厚度的值；

第四步、改变激励信号的频率，再次对被测对象进行检测，再拟合出上下层磁场强度与厚度变化的直线关系，确定上层直线的斜率和截距与底层厚度的关系，确定另一组参数，与第三步的数据求解，得出底层厚度和上层厚度的值。

2.如权利要求1所述的多层导电涂层厚度的涡流检测方法；其特征在于：所述第三步和第四步的运算过程如下：

设下层磁场变化与厚度的关系如下式

B=kd₁+b    （1）

上层厚度变化曲线的斜率与下层厚度的关系如下式

k_x=k₁d₁+b₁    （2）

上层直线的截距与下层厚度的关系如下式

b₀=k₂d₁+b₂    （3）

直线关系如下式

B₀=k_xd₀+b₀    （4）

将式（1）、式（2）和式（3）代入式（4）可得

B₀=(k₁d₁+b₁)d₀+k₂d₁+b₂    （5）

将式（5）转换最终可得

k₁d₁d₀+b₁d₀+k₂d₁+b₂-B₀=0    （6）

其中d₀为双涂层的总厚度，d₁为底层厚度，k₁、k₂、b₁、b₂为实验获得的被测值，B₀为检测值。

3.如权利要求1所述的多层导电涂层厚度的涡流检测方法；其特征在于：所述第一步和第二步的检测过程如下：

步骤1、通过信号发生模块产生多个频率的正弦激励信号，并将其输入涡流探头的激励线圈；

步骤2、将涡流探头固定在两层导电涂层的被测件上，正弦多频激励信号输入检测装置的激励线圈后，在被测对象和涡流探头线圈之间的空间形成一个耦合的电磁场，探测所在位置的磁感应强度信号，将探测到磁感应强度信号转化成相对应的电压信号；

步骤3、通过响应信号放大滤波模块对步骤2所得的电压信号进行放大滤波处理，滤出电压信号中的杂波电压信号并对信号进行放大；

步骤4、将步骤3放大滤波后的电压信号输入到带通滤波器中，提取出和各个激励信号频率一致的电压信号；

步骤5、将步骤4提取出的正弦电压信号通过信号的采集模块，提取出该正弦电压信号的幅值，作为检测信号增幅。

4.一种多层导电涂层厚度的涡流检测装置，其特征在于：包括多频正弦激励信号发生模块、探头、霍尔传感器、滤波放大模块、多频信号分离模块、信号采集模块、运算模块和显示模块；多频正弦激励信号发生模块与探头相连，霍尔传感器附着在探头上，霍尔传感器、滤波放大模块、多频信号分离模块、信号采集模块、运算模块和显示模块依次相连。

5.如权利要求4所述的多层导电涂层厚度的涡流检测装置，其特征在于：所述多频正弦激励信号发生模块由至少一片ICL8038震荡集成电路和一片AD817运算放大器组成。

6.如权利要求4所述的多层导电涂层厚度的涡流检测装置；其特征在于：所述滤波放大模块为以OP07运算放大器为核心的放大滤波电路。