[发明专利]一种针对电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置

说明书

技术领域

本发明属于可靠性寿命预测领域，尤其涉及一种针对电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置。

背景技术

当前，无论国内还是国外，要求电子产品“高可靠”、“长寿命”的呼声越来越高，这既是从提高综合效益考虑，也是企图进一步扩大高性能电子产品功能范围的基础。电子单机作为各个应用领域子系统的心脏，提高其可靠性是相当迫切的任务。

对于电子产品热待机环境下的剩余寿命是衡量其可靠性的重要指标，一般说来，产品的平均寿命愈长，在短时间内工作的可靠性愈高。产品的可靠性不高将会给生产带来很大损失，随着控制系统的大型化，尤其在复杂系统领域，一个系统的元器件越来越多，只要其中一个元件发生故障，一般都会导致整个系统发生故障，造成严重损失，所以产品的可靠性越来越重要。

有鉴于此，如今迫切需要一种针对电子产品实时在线的剩余寿命预测系统装置，以提高其可靠性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种快捷高效的电子产品热待机环境下的剩余寿命预测装置，用以预测系统电子单机正常工作的实时剩余寿命。

本发明采用的技术方案为：一种针对电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置，包括中央控制器、电源模块、剩余寿命预测模块、键盘、显示屏、报警模块、传感器和数据存储模块；

所述中央控制器是对整个装置进行组织和管理，使各模块按照剩余寿命预测的工作流程协调运行；

所述电源模块用于向整个装置供电；

所述键盘是信息的输入接口，用于接收寿命预测所需的各种信息和数据；

所述显示屏用于显示信息，直观地为用户提供电子系统剩余寿命信息；

所述报警模块用于对被测设备当前的运行状态给出标识；当被测对象处于正常运行状态时显示绿灯，若要发生故障显示红灯报警；

所述传感器包括温度传感器和振动传感器，用于监测当前环境的温度和振动应力水平；

所述数据存储模块用于每隔一段采样时间将被测对象的各种状态采集存储起来，以便记录数据和进行寿命预测计算。

进一步的，所述中央控制器的CPU模块选用N80-M44MAD-DC型号的PLC，该模块具有16路数字量输入和16路数字量输出，并在此基础上扩展了8路模拟量输入输出/电阻温度探测器/热电偶输入（E8AD/RTD/THM）模块，使得设备增加了8路模拟量的输入。

进一步的，所述显示屏采用Samkoon触摸屏，7寸界面，通过RS485通讯与剩余寿命预测装置中的中央处理器进行通信，可以实时的与剩余寿命预测装置进行信息共享，并根据用户程序，来实时显示状态。

进一步的，所述温度传感器选用pt100温度传感器来记录被测对象所处环境的温度，所述振动传感器选用集成加速振动传感器JX30系列的JX30E-100-M8-00。

本发明的优点在于：

（1）、本发明实现了电子单机热待机环境下的剩余寿命预测，提高了电子单机运行的可靠性。

（2）、本发明可实时高效的预测被测电子单机实时环境应力下的剩余寿命。

（3）、本发明界面友好，触摸显示屏可对参数直接输入，实时显示剩余寿命信息。

附图说明

图1是本发明的电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置的结构原理图；

图2是实物结构图示意图；

图3是本发明的电子单机热待机环境下的剩余寿命预测算法思路框图；

图4是剩余寿命预测流程图；

图5是剩余寿命密度函数图示意图；

图6是剩余寿命预测装置的实时监测画面示意图。

具体实施方式

下面结合附图的结构图及流程图，对本发明的实施例进行详细说明。

图1是电子单机热待机环境下的故障预测装置的结构原理图。如图1所示，一种电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置包括中央控制器、剩余寿命模块、电源模块、键盘、显示屏、报警模块、温度传感器、湿度传感器和数据存储模块。键盘及显示屏可以采用触摸屏，既可以实现输入，也可以进行显示。

图2是电子单机热待机环境下的故障预测装置的实物结构图示意图。如图2所示，剩余寿命预测装置包含控制器模块、电源模块、触摸屏、传感器、测试台机箱5个部分组成。

含CPU模块和模拟量输入扩展模块两个部分；CPU模块和模拟量输入扩展模块通过扩展总线进行数据交换；CPU模块主要用于数据采集、监控、通信、存储等功能；模拟量输入扩展模块主要用于模拟量输入信号的采集，并通过自定义扩展总线与CPU模块进行数据交互。