[发明专利]一种SiNx中间层磁控溅射制备类金刚石膜的方法在审

专利信息
申请号: 201410111641.4 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN103849847A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 陈青云;王茜;王金枝;罗瑜;王烈林;王星博;邓云礼 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 621010 四川省绵阳*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 sinx 中间层 磁控溅射 制备 金刚石 方法
【权利要求书】:

1.一种SiNX中间层磁控溅射制备类金刚石膜的方法,其特征是,其步骤如下:

(1)衬底的处理:用Si(100)基片作为衬底,先用丙酮在超声波清洗器中清洗20min,然后用酒精在超声波清洗器中清洗20min,经过N2吹干,沉积前用Ar离子轰击20min,放入溅射室;

(2)缓冲层SiNX的生长:靶材为Si,以N2为反应气体,Ar为工作气体,Ar发生电离形成Ar+,Ar+在电磁场作用下碰撞靶材,Ar+与靶材原子交换能量,靶材原子获得的能量大于金属逃逸功时,将离开靶材表面,与反应气体反应沉积在(1)中处理后的衬底表面形成薄膜;

(3)类金刚石膜的生长:靶材采用高纯碳靶,Ar为工作气体,Ar发生电离形成Ar+,Ar+在电磁场作用下碰撞靶材,Ar+与靶材原子交换能量,靶材原子获得的能量大于金属逃逸功时,将离开靶材表面,并沉积在(2)中衬底表面形成的薄膜上,形成类金刚石膜。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征是,步骤(2)中,靶材Si的纯度为99.999%;N2流量为3.2sccm,Ar流量为35.2sccm;射频溅射功率为160W,溅射时间为20min;衬底温度为室温。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征是,步骤(3)中,碳靶纯度为99.999%;Ar流量为35.2sccm;直流溅射功率为1.6W,溅射时间为40min,衬底温度为室温。

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