[发明专利]检测剪除白头发的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410113260.X 申请日: 2014-03-25
公开(公告)号: CN103921002A 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 吴江;莫荻;殷聪珏;何平;张先兵;赵栩莹;杨思源 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: B23K26/38 分类号: B23K26/38;B23K26/70;G01N21/84
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根;王晶
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 检测 剪除 白头 装置 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种剪除白头发的工具,特别是一种制造工艺简单,使用方便的检测剪除白头发的装置及方法。

背景技术

人到中年会有部分头发渐白,去染发又没那么必要,仔细挑出剪除十分麻烦,理发店也不提供这样的服务,确实令人烦恼。目前市面上存在的理发剪主要是主要都是为了理发的效率而设计和改造的,却很少专门针对剪白发的设计。

目前公开的专利主要有:

1.河南城建学院的樊晓虹;王辉;赵红梅;徐安峰;陶建平;发明的电热理发剪,专利号CN102441904A

2.浙江省温州市阳光花园18B的虞智文发明的儿童电动理发剪,专利号CN200957606

3.温州市日电电器有限公司的张文俊发明的可拆卸多刀头理发剪,专利号201120454577

4.中国江苏的蔡兴方发明的自动吸发理发剪,专利号90214579

5.246001安徽省安庆市集贤南路242号(原198)号的金大来,专利号CN2920583

6.韩山师范学院的陈洪财发明的白发智能剪,专利号200920059073

综上所述,人到中年白发渐长。在黑发的映衬下,根根白发,历历在目,总给人一种衰老的感觉,需要一种方便有效的去除白发的装置。

发明内容

本发明是要提供一种检测剪除白头发的装置及方法,其目是既不伤害人体健康,又保持头发美观的前提下全面地去除白头发。让还在为白发困扰的人们重新精神焕发,找回自信。

为实现上述目的,本发明的技术方案是:一种检测剪除白头发的装置,包括回力弹簧、下夹板、上夹板、接触开关、激光二极管、灼烧激光发射器、处理器、旋转三棱镜、CCD,其特点是:下夹板与上夹板之间通过销轴和回力弹簧连接,上夹板内槽口上装有CCD ,CCD 与安装在上夹板内槽后端的处理器和接触开关连接、下夹板内槽底部装有旋转三棱镜,下夹板内槽后端从上至下安装有灼烧激光发射器和激光二极管。

一种检测剪除白头发的方法,其步骤是:用上夹板和下夹板夹紧头发后,激光二极管发光照射在三棱镜上,三棱镜由高速电机带动,在水平方向上旋转,将二极管发出的单点激光变成一线反射在黑头发或白头发上,CCD接收透过黑头发或白头发的光,并成像,将图像信号传入处理器,处理器根据图像中白头发的位置计算出一个精确的时间,并输出驱动信号给灼烧用激光发射器,灼烧发射器发出激光经三棱镜反射,击中白头发,将其烧断。

上述处理器根据图像中白头发的位置计算出一个精确时间的具体方法是:

1)设三棱镜内切圆半径为r,以棱镜中心为坐标原点,做X-Y坐标系,三棱镜逆时针旋转σ转速为n r/s,两种激光的入射光延长线均通过三棱镜中心, 

2)检测激光计算:

三棱镜上反射点坐标:

                        (1)

                        (2)

检测光刚好进入CCD区域,即最右点δ:

           (3)

灼烧激光计算:

三棱镜上反射点坐标:

                                    (4)

                                    (5)

检测光刚好进入CCD区域,即最右点β:

           (6)

3)灼烧激光延时T计算:

                            (7)

T为检测激光进入CCD工作区后开始计算,即检测激光进入CCD 9工作区后T秒后发射灼烧激光。

本发明的有益效果是:

(1)本剪发装置的结构主要由上夹板,下夹板构成。两夹板间由回力弹簧连接,弹簧使两夹板分开,当使用者握紧手柄部分,夹板加紧。这种设计防止接触开关长时间开启。整体歪曲120度左右,这种设计符合人体工程学,让使用者手臂自然舒展。

(2)检测设备:主要由检测用激光二极管,三棱镜,CCD器件组成。三棱镜由电动机带动高速旋转,将检测用激光二极管发出的单点激光变成一线反射在头发上,头发另一侧的CCD器件接收头发透光,成像并将图像传入处理器。CCD器件的最右端(也可以是CCD器件上任一点,只要方便制造和使用)用于校验三棱镜的角度。设置头发挡板让CCD器件最右端点不被头发遮挡,该点每次受到检测用激光照射向处理器发出一个信号E。

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