[发明专利]一种单颗粒铀同位素比的测定方法有效

专利信息
申请号: 201410113474.7 申请日: 2014-03-25
公开(公告)号: CN103901095B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 王凡;张燕;赵永刚;郭冬发;谭靖;谢胜凯;李金英;鹿捷 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102413 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 颗粒 同位素 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种单颗粒铀同位素比的测定方法,其特征在于该方法包括如下步骤:

(一)含铀颗粒的回收和转移

以超声振荡法回收样品中的颗粒,并将颗粒转移至碳片上;采用X射线能量色散谱仪配合扫描电子显微镜在碳片上寻找含铀颗粒,找到含铀颗粒后,利用微操作系统控制取样针移动将单个含铀颗粒吸附于取样针尖端,然后将含铀颗粒转移并粘附至导电胶上;

(二)含铀颗粒的定位和铀同位素比的测定

将粘附有单个含铀颗粒的导电胶置于激光电离质谱仪样品腔内,调节参数,待其稳定后开始测定;测定时,采用激光束对含铀颗粒在导电胶上的大致位置进行扫描以寻找粘附在导电胶上的含铀颗粒;当激光电离质谱仪接收到含铀信号时,固定激光束位置,待接收信号稳定后,记录分析数据,经数据处理完成铀同位素比的测定。

2.如权利要求1所述的单颗粒铀同位素比的测定方法,其特征在于:所述取样针为钨针。

3.如权利要求1所述的单颗粒铀同位素比的测定方法,其特征在于:所述取样针尖端曲率半径为400nm。

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