[发明专利]单接收机太赫兹矢量场形测量装置及其测量方法

权利要求书

1.单接收机太赫兹矢量场形测量装置，包括发射频综(1)和本振频综(2)，其特征是：本单接收机太赫兹矢量场形测量装置还包括测试通道和参考通道，在测试通道中，所述的发射频综(1)通过定向耦合器(3)依次连接有倍频放大模块(4)、待测辐射源(5)以及能接收射频信号并混频的接收机(6)，在参考通道中，发射频综(1)和本振频综(2)均通过定向耦合器(3)另一输出端口与微波混频器(7)连接，所述的接收机(6)及微波混频器(7)的中频输出端口均与采集卡(8)连接。

2.根据权利要求1所述的单接收机太赫兹矢量场形测量装置，其特征是：所述的采集卡(8)为双通道A/D采集卡。

3.根据权利要求1所述的单接收机太赫兹矢量场形测量装置，其特征是：所述的定向耦合器(3)包括有第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)，所述的发射频综(1)与第一定向耦合器(31)连接，所述的本振频综(2)与第二定向耦合器(32)连接，所述的第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)均包括有两个输出端口，且这两个端口分别连通测试通道以及参考通道。

4.根据权利要求1或2或3所述的单接收机太赫兹矢量场形测量装置，其特征是：所述的发射频综(1)、本振频综(2)和采集卡(8)之间通过10MHz参考信号线相互连接。

5.通过如权利要求1所述的单接收机太赫兹矢量场形测量装置测量太赫兹矢量场形的方法，其特征是：包括以下步骤：

步骤一、发射频综(1)和本振频综(2)分别与一个定向耦合器(3)相连，所述的定向耦合器(3)的两个输出通道分别作为测试和参考通道，发射频综(1)发出的微波信号频率记为                                               ，本振频综(2)发出的微波信号频率记为；

步骤二、在测量通道中，发射频综(1)输出的微波信号经倍频放大后，生成太赫兹射频信号，经接收机(6)接收并混频后，生成测试中频信号，其频率为=m(-)，其中m为测试通道的总倍频次数；

步骤三、在参考通道中，发射频综和本振频综输出的信号送入微波混频器(7)中，生成参考中频信号，其频率为=-；

步骤四、将测试中频信号和参考中频信号送入采集卡(8)中，所述的采集卡(8)对二者进行A/D采样，得到测试通道的时域数字信号x_T(t)以及参考通道的时域数字信号x_R(t)；

步骤五、对测试通道的时域数字信号及参考通道的时域数字信号进行软件数字信号处理，得到测试通道的幅度和相位。

6.根据权利要求5所述的测量太赫兹矢量场形的方法，其特征是：所述的步骤五中对测试通道的时域数字信号及参考通道的时域数字信号进行软件数字信号处理的流程为：

分别对x_T(t)和x_R(t)进行傅里叶变换，得到测试中频的频谱X_T(f)和参考中频的频谱X_R(f)；

2）从测试中频频谱中提取测试信号的幅度和相位；

3）从参考中频频谱中提取参考信号的幅度和相位；

4）计算测试信号校正后的相位为-m()。

7.根据权利要求5所述的测量太赫兹矢量场形的方法，其特征是：所述的步骤四中采集卡(8)的采样频率〉。