[发明专利]芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法有效
| 申请号： | 201410114690.3 | 申请日： | 2014-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN103941177A | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 冯晖 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 吴林松 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 精度 sigma delta adc dac 数字电路 测试 方法 | ||
1.一种芯片内同精度Sigma-delta模数转换部分和Sigma-delta数模转换部分的数字电路测试方法，所述芯片还包括串行接口；所述Sigma-delta模数转换部分包括先后连接的模拟Sigma-delta调制器和抽样滤波器，所述Sigma-delta数模转换部分包括先后连接的插值滤波器和数字Sigma-delta调制器；其特征在于：包括以下步骤：
（1）连接所述Sigma-delta模数转换部分与所述Sigma-delta数模转换部分的数字通路；
（2）从所述Sigma-delta数模转换部分的输入端输入数字测试信号，在所述Sigma-delta模数转换部分的输出端接收输出的数字信号；
（3）比较所述输入的数字测试信号与所述输出的数字信号，如果相同，则表示所述Sigma-delta模数转换部分和所述Sigma-delta数模转换部分的数字电路均正常工作；如果不同，则表示至少有部分数字电路工作异常。
2.根据权利要求1所述的芯片内同精度Sigma-delta模数转换部分和Sigma-delta数模转换部分的数字电路测试方法，其特征在于：所述方法在所述步骤（1）之前还包括：控制所述芯片进入测试模式。
3.根据权利要求2所述的芯片内同精度Sigma-delta模数转换部分和Sigma-delta数模转换部分的数字电路的测试方法，其特征在于：控制所述芯片进入测试模式采用的方法为：从所述芯片的串行接口写入测试控制位。
4.根据权利要求1所述的芯片内同精度Sigma-delta模数转换部分和数模转换部分的数字电路测试方法，其特征在于：所述步骤（1）包括：控制所述数字Sigma-delta调制器输出端连接所述抽样滤波器的输入端，以及断开所述模拟Sigma-delta调制器与所述抽样滤波器的连接。
5.根据权利要求1所述的芯片内同精度Sigma-delta模数转换部分和Sigma-delta数模转换部分的数字电路测试方法，其特征在于：所述步骤（1）采用软件开关技术。
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