[发明专利]一种内爆双流线诊断系统有效
| 申请号： | 201410115848.9 | 申请日： | 2014-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN103839598A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 丁永坤;曹柱荣;邓博 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G21B1/23 | 分类号： | G21B1/23 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 双流 诊断 系统 | ||
1.一种内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述诊断系统包括背光源、前置滤片、双通道X射线显微镜、双通道滤片和X射线条纹相机；背光源产生的X射线穿过待测物体，经过前置滤片，再由双通道X射线显微镜进行带通成像，经过双通道滤片进行滤波，最后成像到X射线条纹相机上获得内爆双流线诊断图像。
2.根据权利要求1所述的内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述的背光源为激光辐照复合材料靶产生的X射线源。
3.根据权利要求2所述的内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述的背光源使用的复合材料选自Ti、Cu、Al、Ag或Mo中的两种 。
4.根据权利要求1所述的内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述的前置滤片的材料选自石墨、Be或聚对二甲苯中的一种。
5.根据权利要求1所述的内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述的双通道X射线显微镜为Kirkpatrick-Baez显微镜。
6.根据权利要求1所述的内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述的双通道X射线显微镜为球面弯晶显微镜。
7.根据权利要求1所述的的内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述的双通道滤片的材料选自Be、Mg、Al、Ti、Cr、Fe、Ni或Zn中的一种。
8.根据权利要求1所述的内爆双流线诊断系统，其特征在于：所述X射线条纹相机的时间分辨为30ps以下，空间分辨为200um以下。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心，未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410115848.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：采用期望的色彩对金属表面激光标记的方法
- 下一篇：一种盐酸金霉素的制备方法
