[发明专利]航天TDI CCD相机全链路数值仿真方法有效
申请号: | 201410116714.9 | 申请日: | 2014-03-26 |
公开(公告)号: | CN103913148B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 金光;杨飞;曲宏松;贺小军;钟兴 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01C11/00 | 分类号: | G01C11/00 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 南小平 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 航天 tdi ccd 相机 路数 仿真 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光电成像技术领域,具体涉及一种基于在轨成像物理机理的航天TDICCD相机全链路数值仿真方法。
背景技术
随着卫星遥感影像在各领域的广泛应用,对航天TDICCD相机成像质量要求不断提高。考虑到航天产品成本很高的情况,准确的地面仿真显得尤为必要。高精度高分辨率卫星成像仿真在卫星的技术指标论证、试验测试、在轨运行评价以及故障模拟分析中都能够发挥十分重要的作用。目前,卫星对地成像过程仿真大多采用地面全物理成像试验手段:根据卫星在轨飞行状态和相机参数计算光学遥感器和成像目标之间的相对位置及相对速度关系,利用三轴气浮转台模拟卫星平台,动态靶标模拟地面景物,并使用光纤陀螺、磁强计等实时测量姿态角和姿态角速度信息。然而,这种全物理硬件仿真具有如下不足:
1、全物理仿真使用硬件实物模拟卫星在轨成像状态,成本较高、调试周期长;
2、全物理仿真平台大多采用平面靶标模拟地面景物,或是带有立体起伏地形地物的成像靶标,很难反映出地物各点位置和像面各点的精确投影关系,尤其是难以模拟地球曲率对光学遥感器几何定位及成像畸变的影响;
3、不同类型的传感器所需采用的硬件设备也不尽相同,因此单机复用性较差,带来资源浪费。
发明内容
为了解决上述航天TDICCD相机全链路全物理硬件仿真存在的技术问题,本发明提出一种针对航天TDICCD相机在轨成像过程,采用数值模拟技术路线对成像中的每一环节进行精确建模。
航天TDICCD相机全链路数值仿真方法,包括以下步骤:
步骤一,建立包含波谱属性的观测场景;
步骤二,轨道建模;
步骤三,姿态建模;
步骤四,相机光学系统建模;
步骤五,星体观测矢量建模;
步骤六,目标相机入瞳辐亮度场建模;
步骤七,相机辐射响应建模;
步骤八,MTF退化模拟;
步骤九,加噪及压缩模拟。
所述的步骤一建立包含波谱属性的观测场景具体步骤为:
首先几何模型的建立采用三角网DEM的组织形式,三角网DEM包括三角形顶点位置、顶点纹理坐标、顶点法向量、三角形顶点在顶点数组中的索引,整个观测场景由一系列三角网DEM组成;
其次将三角网DEM和波谱属性通过唯一ID进行关联,波谱数据库包含的数据组成:观测地点信息描述观测地的经纬度、海拔高度典以及面积信息;观测目标细心描述观测的典型地物的名称、所属类别;反射率值描述了此典型地物在不同波长上的反射率,通过索引ID读取相应的波谱数据。
所述的步骤二轨道建模具体步骤为:
首先给定初始时刻卫星平台在J2000惯性坐标系内的位置和速度;然后基于J2000惯性坐标系内的二体轨道动力学微分方程,利用数值积分算法,对二体轨道动力学微分方程积分,得到下一时刻卫星在惯性坐标系下的位置矢量和速度矢量;最后根据卫星在J2000惯性坐标系下的位置速度矢量计算相应的轨道六根数包括半长轴、偏心率、轨道倾角、升交点赤经、近地点幅角及真近点角。
所述的步骤三姿态建模具体步骤为:
首先给定初始时刻卫星本体坐标系相对J2000.0惯性坐标系的姿态四元数及体坐标系相对于J2000.0惯性坐标系的姿态角速度在体系下的分量形式;然后对卫星姿态动力学模型和卫星姿态四元数运动学方程数值积分,得到下一时刻体系下卫星本体坐标系相对惯性坐标系的姿态角速度及体坐标系相对惯性坐标系的姿态四元数。
所述的步骤四相机光学系统建模具体步骤为:
相机光学系统建模包含两大类:第一类是采用理论公式推导的方法对相机光学系统基础理论建模,包括相机内方位元素建模、光学系统点扩散函数建模、入瞳到像面的光谱辐射响应特性建模;第二类是采用光线追迹法对光学系统光路几何建模;
相机内方位元素由焦距、主点位置、图像畸变组成,通过平行光管和星点靶标对相机进行标定得到;将光学系统各光学元件的加工误差,装调误差输入到ZEMAX光学设计软件中,获得相应的二维点扩散函数矩阵;
基于光线追踪法建模中光谱响应特性的模型;设光线入射到光学反射表面的入射角为i,可通过光线追踪法算出;入射波长为λ,则光线经过光学反射表面后的光谱响应特性:
R(i,λ)=r(i)∫σ(λ)dλ
其中r(i)为镀膜材料对不同角度入射光线的发射率;σ(λ)为镀膜材料的光谱响应函数。设光学系统有n个反射表面,则该光线由入瞳到像面的光谱响应特性为:
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