[发明专利]用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法

权利要求书

1.一种用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法，其特征在于该方法包括以下步骤：

①将分划板（7）安装到第一相关光束（1）或者第二相关光束（2）中，使其垂直于光束传输方向，分划板的尺寸表示为x；

②将光电探测器（10）的探测面平行于第一相关光束（1）和第二相关光束（2）的相关工作面（AO），检测分划板（7）在相关信号上的投影y；

③测量相关的第一相关光束和第二相关光束的夹角为φ；

④按下列公式计算单次自相关或互相关测量仪的时间分辨率ρ：

ρ=2z/cy=2x×tan(φ/2)/cy

式中，c为光速。

2.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于所述的分划板为带刻度的透明材料、具有固定间距和图样的透明材料或不透明材料。

3.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于所述的第一相关光束、第二相关光束为：任意百分比分光镜的反射光和透射光、任意百分比分光镜的反射光经过非线性晶体所产生的信号和透射光、任意百分比分光镜的反射光和透射光经过非线性晶体所产生的信号。

4.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于所述的相关过程工作面，为非线性晶体的前表面，所述的非线性晶体包括但不限于BBO、LBO、KDP、PPLN。

5.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于所述的光电检测器为CCD、光电二极管或快响应光电管。