[发明专利]用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源有效

专利信息
申请号: 201410120281.4 申请日: 2014-03-27
公开(公告)号: CN103925938A 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 张宁;沈湘衡;宋莹 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 南小平
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 用于 光电 测量 设备 性能指标 检测 摆式 模拟 目标
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种检测光电测量设备,特别涉及一种用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源。

背景技术

在光电测量设备的研制装调、出厂检测过程中需要在室内对其静态测角精度和动态跟踪性能进行检测,来保证其性能指标满足设计要求。为满足光电测量设备指标项目检测,必须提供专门的精密检测装置。目前采用的主要方法是采用静态检测架完成对光电测量设备静态测角精度的检测,采用光学动态靶标完成对光电测量设备动态跟踪性能的检测。静态检测架是在铸铁支架上安装多个平行光管作为目标源,用于光电测量设备照准差、零位差、水平轴误差以及静态测角误差检测。动态光学靶标是在旋转臂上安装平行光管和反射镜,力矩电机带动旋转臂转动产生圆周运动的目标,光电测量设备跟踪该目标完成对跟踪性能指标的检测。光学动态靶标的目标源的运动轨迹固定,具有较高的运动精度,但是运动轨迹固定,无法产生具有多种轨迹的运动目标。

发明内容

本发明要解决现有技术中无法利用一种检测装置实现对光电测量设备静态测角精度和动态跟踪性能的检测的技术问题,提供一种可以实现静、动态性能指标检测,并提供多种轨迹的模拟目标源的,用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源。

为了解决上述技术问题,本发明的技术方案具体如下:

一种用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源,包括:

竖直方向上依次设置的多个用来模拟具有不同俯仰角的无穷远光学目标的相互平行的平行光管;

在多个平行光管像面处安放有不同形状的分划板,其用来产生多个用于光电测量设备成像的目标;

静态模拟目标源模式时,该倒摆式模拟目标源可根据多个平行光管提供具有不同俯仰角的目标作为真值,完成光电测量设备的静态测角精度检测;

动态模拟目标源模式时,该倒摆式模拟目标源可根据被检光电测量设备角速度和角加速度指标,通过主控计算机中的主控软件设置倒摆摆臂的摆动速度和角度范围。

在上述技术方案中,多个所述平行光管由上至下依次包括:65°平行光管、45°平行光管、30°平行光管以及0°平行光管各一个。

在上述技术方案中,当其处于静态模拟目标源模式时,静态定位机构可固定倒摆配重,使倒摆摆臂保持稳定。

在上述技术方案中,动态模拟目标源模式时,主控计算机通过RS422串行通讯接口将控制命令给伺服控制器,伺服控制器产生PWM信号至驱动器及电源,驱动器及电源的输出通过导电环驱动力矩电机带动倒摆摆臂摆动,从而使目标源生成动态模拟目标。

在上述技术方案中,所述平行光管采用溴钨灯作为光源。

本发明具有以下的有益效果:

本发明提出的倒摆式模拟目标源可以为光电测量设备室内性能检测提供静态检测目标源和动态目标源一体化的检测设备;并且可以产生具有多种具有不同俯仰角的运动目标源;目标轨迹更符合实际状态,对光电测量设备室内静、

动态性能检测具有重要意义。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。

图1为本发明的倒摆式模拟目标源的侧视结构示意图。

图2为本发明的倒摆式模拟目标源的正视结构示意图。

图3为本发明的倒摆式模拟目标源的目标运动轨迹示意图。

1-65°平行光管、2-45°平行光管、3-30°平行光管、4-0°平行光管、5-倒摆摆臂、6-精密轴系、7-力矩电机、8-24位绝对式光电编码器、9导电环、10-支撑架、11-静态定位机构、12-底座、13-倒摆配重、14-供电通讯电缆、15-控制机柜、16-主控计算机、17-伺服控制器、18-驱动器及电源、19-时统终端、20-UPS电源、21-光电测量设备。

具体实施方式

本发明的发明思想为:光电测量设备静态测角精度和动态跟踪性能检测需要不同的检测设备。为完成一套光电测量设备的检测需要配置静态检测架、动态靶标等检测设备,并且设备需要合理布置,才能避免检测过程中设备反复转移、搬动。最关键是动态靶标不能产生复杂运动轨迹以及多目标轨迹的运动目标。本发明提出一种可以产生新的模拟目标源的检测装置,该检测装置同时具有静态目标源模式和动态目标源模式,在一台设备上能够完成静态测角精度和动态跟踪性能的检测,形成新的检测方法。

下面结合附图对本发明做以详细说明。

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