[发明专利]样本分析装置、样本分析方法及控制系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于分析采自受检者的样本的样本分析装置、样本分析方法及控制系统。

背景技术

人们已经知道有一种样本分析装置用于混合采自受检者的样本和试剂来制备测定试样，并通过测定该测定试样来对样本进行分析。此种样本分析装置要用装在试剂容器中的试剂进行测定，因此，用户能够了解试剂容器内剩余的试剂还能分析几个样本对于提高样本分析效率很重要。

美国专利申请公报第2010/114501中公开了一种能够显示还能测定几次样本的样本分析装置。美国专利申请公报第2010/114501所公开的样本分析装置使用几种试剂进行一个测定项目的样本测定。此样本分析装置就用于上述测定项目的测定的几种试剂分别获取能测定的次数，即剩余检测数，并将各种试剂的剩余检测数中最小的剩余检测数作为该测定项目的能测定的次数显示。

样本分析装置除了分析采自受检者的样本外，在制作标准曲线、进行精度管理、进行空白检查等情况下，还需要消耗试剂来测定校准品、精度管理样本和水等不同于采自受检者的样本的物质。然而，在专利文献1所公开的样本分析装置中，如果在上述标准曲线制作、精度管理及空白检查等过程中消耗了试剂，则显示的能测定次数与实际上能够测定的样本数就不一致了，存在着无法正确获得能够测定的样本数的问题。

发明内容

本发明的范围只由后附权利要求书所规定，在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。

本发明提供：

（1）一种样本分析装置，包括：

试剂支撑部件，用于支撑试剂，

测定部件，测定由采自受检者的受检者样本与所述试剂支撑部件支撑的试剂制备的第一测定试样，测定由不同于受检者样本的标准试样和所述试剂支撑部件支撑的试剂制备的第二测定试样，

输出部件，及

用于执行以下操作的控制器：

让所述输出部件输出所述测定部件测定所述第一测定试样获得的受检者样本的分析结果；及

让所述输出部件根据制备所述第一测定试样所需要的试剂量和测定所述第二测定试样时的试剂的预定消耗量，输出能够分析的受检者样本数。

如此，通过测定由标准试样制备的第二测定试样时的试剂的预定消耗量求出能够分析的受检者样本数，由此就能正确获得能够分析的受检者样本数。

（2）根据（1）所述的样本分析装置，其特征在于：

所述控制器根据所述试剂支撑部件上支撑的试剂的余量、制备所述第一测定试样所需要的试剂量、以及在测定所述第二测定试样时试剂的预定消耗量，让所述输出部件输出能够分析的受检者样本数。

通过上述结构能够更加正确地获得能够分析的受检者样本数。

（3）根据（1）或（2）所述的样本分析装置，其特征在于：

所述标准试样至少包含精度管理用样本和制作用于处理测定结果的标准曲线的标准曲线制作用样本中的其中之一。

以此结构，在进行精度管理和制作标准曲线时也能够准确获得能分析的受检者样本数。

（4）根据（3）所述的样本分析装置，其特征在于：

所述标准试样包括所述精度管理用样本和所述标准曲线制作用样本，

在对受检者样本进行分析时，所述控制器根据制备所述第一测定试样所需要的试剂量、以及在测定由所述精度管理用样本与所述试剂支撑部件支撑的试剂所制备的精度管理用测定试样时的试剂的预定消耗量，让所述输出部件输出第一样本数作为能分析的受检者样本数；及

在制作标准曲线时，所述控制器根据制备所述第一测定试样所需要的试剂量、测定所述精度管理用测定试样时的试剂的预定消耗量、以及在测定由所述标准曲线制作用样本与所述试剂支撑部件支撑的试剂所制备的标准曲线制作用测定试样时的试剂的预定消耗量，让所述输出部件输出第二样本数作为能分析的受检者样本数。

如此，分析受检者样本时不制作标准曲线。因此，所述控制器在分析受检者样本时不使用测定标准曲线制作用测定试样时的试剂的预定消耗量，而是使用测定精度管理用测定试样时的试剂的预定消耗量来求出能分析的受检者样本数。从而能够获得正确的能分析的受检者样本数。此外，所述控制器在制作标准曲线时，使用测定标准曲线制作用测定试样时的试剂的预定消耗量和测定精度管理用测定试样时的试剂的预定消耗量来求出能分析的受检者样本数。从而能够正确获得能分析的受检者样本数。

（5）根据（4）所述的样本分析装置，其特征在于：