[发明专利]带有光程扫描位置和速度校正的光学相干域偏振测量装置有效

专利信息
申请号: 201410120591.6 申请日: 2014-03-28
公开(公告)号: CN103900797A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 杨军;吴冰;苑勇贵;闫德凯;彭峰;苑立波 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 带有 光程 扫描 位置 速度 校正 光学 相干 偏振 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及的是一种光纤测量装置,具体涉及到一种带有光程扫描位置和速度校正的光学相干域偏振测量装置。

背景技术

光学相干域偏振测量技术(OCDP)是一种高精度分布式偏振耦合测量技术,它基于宽谱光干涉原理,通过扫描式光学干涉仪进行光程补偿,实现不同偏振模式间的干涉,可对偏振串扰的空间位置、偏振耦合信号强度进行高精度的测量与分析,进而获得光学偏振器件的消光比、拍长等重要参数。OCDP技术作为一种非常有前途的分布式光学偏振性能的检测方法,被广泛用于保偏光纤制造、保偏光纤精确对轴、器件消光比测试等领域。与其他如:偏振时域反射技术(POTDR)、光频域反射技术(OFDR)、光相干域反射技术(OCDR)等分布式检测方法与技术相比,OCDP技术具有结构简单、高空间分辨率(5~10cm)、大测量范围(测量长度几公里)、超高测量灵敏度(耦合能量-80~-100dB)、超大动态范围(108~1010)等优点,非常有希望发展成为一种高精度、通用测试技术和系统。由于该技术最为直接和真实地描述了信号光在光纤光路中的传输行为,所以特别适合于对光纤器件、组件,以及光纤陀螺等高精度、超高精度干涉型光纤传感光路进行测试和评估。

早在80年代,国外已经就提高偏振检测精度开始了研究。20世纪90年代初,法国Herve Lefevre等人(Method for the detection of polarization couplings in a birefringent optical system and application of this method to the assembling of the components of an optical system,US Patent4893931)首次公开了基于白光干涉原理的OCDP系统,它采用超辐射发光二极管(SLD)作为光源和空间干涉光路作为光程相关测量结构。法国Photonetics公司根据此专利研制了WIN-P125和WIN-P400两种型号OCDP测试系统,主要用于较短(500m)和较长(1600m)保偏光纤的偏振特性分析。其主要性能为偏振串扰灵敏度为-70dB、动态范围为70dB。韩国Fiberpro公司推出了的ICD800主要用于替换WIN-P系列OCDP系统,空间分辨率为10cm,扫描保偏光纤长度增加到1000m,灵敏度提高到-80dB。

2011年,美国通用光电公司(General Photonics Corporation)的姚晓天等人公开了一种用于保偏光纤和光学双折射材料中分布式偏振串扰测量的全光纤测量系统(Measuring Distributed Polarization Crosstalk in Polarization Maintaining Fiber and Optical Birefringent Material,US20110277552),利用在光程相关器之前增加光程延迟器,抑制偏振串扰测量时杂散白光干涉信号的数量和幅度。该方法可以将全光纤测量系统的偏振串扰灵敏度提高到-95dB,但动态范围保持在75dB。

同年,天津大学张红霞等人公开了一种光学偏振器件消光比的检测方法和检测装置(中国专利申请号:CN201110052231.3),同样采用空间干涉光路作为OCDP的核心装置,通过检测耦合点的耦合强度,推导出偏振消光比。该装置适用于保偏光纤、保偏光纤耦合器、偏振器等多种光学偏振器件。其与Herve Lefevre等人的方案相比,技术性能和指标相近。

2012年,本发明的申请人公开了一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置(中国专利申请号:CN201210379406),此发明采用全光纤测试装置,具有测量精度高、较好的温度和振动稳定性,可用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析。同年,本发明的申请人又公开了一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法(中国专利申请号:CN201210379407),此发明可以极大地抑制噪声幅度,提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围。

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